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一种便于安装的可拔插硬盘盒 公开日期:2024-04-16 公开号:CN117672276A 申请号:CN202410131914.5一种便于安装的可拔插硬盘盒
- 申请号:CN202410131914.5
- 公开号:CN117672276A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:深圳市菲炫电子科技有限公司
本发明公开了一种便于安装的可拔插硬盘盒,属于硬盘盒技术领域,一种便于安装的可拔插硬盘盒,包括数据硬盘和组合式硬盘盒,组合式硬盘盒设置于数据硬盘的外侧,数据硬盘的边侧与组合式硬盘盒的内侧之间设置有数据对接组件,数据硬盘的侧面和顶端,与组合式硬盘盒之间设置有散热组件。它可以有效降低硬盘进行维护更换时的人工成本和时间成本,提高了硬盘的维护效率,同时,实现了硬盘作业时的及时散热,并避免出现硬盘过热损坏的可能,同时保证了硬盘的高效运转,且延长了宽面型数据线的伸出长度,硬盘使用时便于寻找合适的放置硬盘的位置,提高了硬盘的使用便利性。- 发布时间:2024-03-11 07:29:42
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一种抗辐射的固态硬盘 公开日期:2024-04-16 公开号:CN117612577A 申请号:CN202410100037.5一种抗辐射的固态硬盘
- 申请号:CN202410100037.5
- 公开号:CN117612577A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:深圳宏芯宇电子股份有限公司
本发明提供了一种抗辐射的固态硬盘,包括:保护壳,由第一屏蔽材料构成,所述保护壳内形成有柱状的容置腔,所述保护壳的外侧具有第一接口,所述容置腔内具有与第一接口电连接的第二接口;支撑构件,固定于所述容置腔内并沿所述容置腔的轴向设置,且在所述容置腔的径向截面上,所述支撑构件呈螺旋状分布;电路板,包括柔性基板以及集成于所述柔性基板的存储芯片,所述柔性基板上具有第三接口;所述电路板位于所述容置腔内,且所述电路板的第三接口与第二接口电连接,所述柔性基板在所述支撑构件限位下呈螺旋状盘绕。本发明通过将电路板以螺旋状盘绕设置在保护壳的柱状腔体内,使得相同存储容量的固态芯片具有较小的体积和重量。- 发布时间:2024-03-02 08:02:08
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JTAG接口控制方法、接口控制模块、芯片以及电子设备 公开日期:2024-04-16 公开号:CN116959546A 申请号:CN202210407817.5JTAG接口控制方法、接口控制模块、芯片以及电子设备
- 申请号:CN202210407817.5
- 公开号:CN116959546A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:象帝先计算技术(重庆)有限公司
本公开提供了一种JTAG接口控制方法,应用于芯片上的接口控制模块,芯片还包括OTP模块,OTP模块的存储区域被配置为包括:多个地址连续且用于存储口令的口令存储区、用于预先存储口令种子的存储区、以及用于存储指示信息的存储区;每个口令存储区用于存储一个口令,指示信息用于指示存储有最新已验证口令的口令存储区;方法包括:对OTP模块进行读取以获取指示信息和口令种子;确定所述指示信息所指示的口令存储区,从所确定的口令存储区读取口令;从所确定的口令存储区的下一口令存储区读取目标口令;基于所述口令以及所述口令种子,生成一次性口令;匹配所述目标口令以及所述一次性口令;根据匹配情况控制所述JTAG接口开启或关闭。- 发布时间:2023-10-31 07:13:49
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具有引脚功能映射的模式生成系统 公开日期:2024-04-16 公开号:CN113272906A 申请号:CN202180001097.6具有引脚功能映射的模式生成系统
- 申请号:CN202180001097.6
- 公开号:CN113272906A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:长江存储科技有限责任公司
在某些方面中,一种模式生成系统包括模式发生器、存储器、引脚功能寄存器、引脚功能映射器、和一组源选择器。模式发生器生成多个源模式。存储器存储查找表组。查找表组描述多个源模式与一组测试信道之间的映射关系,并且基于引脚功能索引对查找表组进行索引。引脚功能寄存器存储引脚功能索引的值。引脚功能映射器执行引脚映射操作,以基于引脚功能索引的值和查找表组生成一组源选择信号。每个源选择器基于接收自引脚功能映射器的对应源选择信号从多个源模式选择源信号并将其输出至对应的测试信道。- 发布时间:2023-06-18 07:06:28
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3D NAND的预测升压 公开日期:2024-04-16 公开号:CN113196399A 申请号:CN201980077963.23D NAND的预测升压
- 申请号:CN201980077963.2
- 公开号:CN113196399A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:桑迪士克科技有限责任公司
非易失性高性能存储器设备兼顾速度和可靠性,这可包括通道升压以降低存储器单元中的数据错误率。竖直NAND串表现出越大的编程干扰(错误),字线在该串上越高。本公开在编程达到已经确定因编程干扰而引起的错误可能成问题的水平(字线数)时施加升压的位线电压或应用增加的预充电时间。位线的升压可在存储的字线值之后或基于在先前字线处的计算的错误数发生。在一个示例中,该位线保持与现有字线编程操作相同,直到确定可能的编程干扰为止。- 发布时间:2023-06-16 07:15:44
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存储器 公开日期:2024-04-16 公开号:CN113160862A 申请号:CN202010082652.X存储器
- 申请号:CN202010082652.X
- 公开号:CN113160862A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:联华电子股份有限公司
本发明公开一种存储器,包含(n‑1)个非挥发性单元,(n‑1)条位线及电流驱动电路。该(n‑1)个非挥发性单元的每个非挥发性单元包含第一端及第二端。该(n‑1)条位线的第i位线耦接于该(n‑1)个非挥发性单元的第i非挥发性单元的第一端。该电流驱动电路包含n个晶体管,耦接于该(n‑1)个非挥发性单元。- 发布时间:2023-06-15 07:15:48
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一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法 公开日期:2024-04-16 公开号:CN112820340A 申请号:CN202110163424.X一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法
- 申请号:CN202110163424.X
- 公开号:CN112820340A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:上海华虹宏力半导体制造有限公司
本发明提供的一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法,包括以下步骤:设定存储器的电参数的修调档位的筛选手段;执行晶圆测试,以得到实测的电参数的实测修调档位;将所述电参数的实测修调档位记录到log文档中;以及对所述log文档中的记录的电参数的实测修调档位进行分析,并绘制测试晶圆图谱。本发明通过log文档记录的每个晶圆的电参数的实测修调档位,不仅可以将修调档位异常的芯片剔除,提供了可靠性风险预警机制,还有效提高了芯片的可靠性指标。- 发布时间:2023-06-07 12:43:45
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存储控制器以及存储装置初始化方法 公开日期:2024-04-16 公开号:CN112802512A 申请号:CN201911106496.X存储控制器以及存储装置初始化方法
- 申请号:CN201911106496.X
- 公开号:CN112802512A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:深圳宏芯宇电子股份有限公司
本发明提供一种存储控制器以及存储装置初始化方法。所述方法包括抹除可复写式非易失性存储器模块的多个实体区块;写满预定数据至所述多个实体区块;对所述多个实体页面执行读取操作以获得多个页面错误比特数;根据所述多个页面错误比特数来识别所述多个实体区块各自的物理状况,并且根据多个物理状况来排序所述多个实体区块以获得区块序列;反应于判定所述区块序列中的所有实体区块的所述总空间不等于所述第一预定空间,从所述区块序列中移除排序于最前方的实体区块;以及反应于判定所述总空间等于所述第一预定空间,完成所述初始化操作,选择所述区块序列中的多个第一实体区块中的多个第二实体区块的总空间来作为具有预定大小的第二预定空间。- 发布时间:2023-06-07 12:28:12
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具有降低的干扰的三维存储器器件编程 公开日期:2024-04-16 公开号:CN112771617A 申请号:CN202180000130.3具有降低的干扰的三维存储器器件编程
- 申请号:CN202180000130.3
- 公开号:CN112771617A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:长江存储科技有限责任公司
一种3D存储器器件可以包括第一组存储器层、在第一组存储器层上方的第二组存储器层、以及在第一存储器层与第二存储器层之间的第一虚设存储器层。该3D存储器器件可以包括多个NAND存储器串,多个NAND存储器串均延伸穿过第一组存储器层、第二组存储器层和第一虚设存储器层。该3D存储器器件可以包括字线(WL)驱动电路,在对第一组存储器层中的一个进行编程时,该WL驱动电路可以被配置为在预充电周期期间,将第二预充电电压施加到第一虚设存储器层。第二预充电电压可以与第一预充电电压重叠,并且在第一预充电电压之前坡降。- 发布时间:2023-06-07 12:16:45
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一种测试失效的测试向量的定位方法 公开日期:2024-04-16 公开号:CN112767991A 申请号:CN202110089974.1一种测试失效的测试向量的定位方法
- 申请号:CN202110089974.1
- 公开号:CN112767991A
- 公开日期:2024-04-16
- 申请人:上海华虹宏力半导体制造有限公司
本发明提供的一种测试失效的测试向量的定位方法,包括以下步骤:将测试向量集分成多个逻辑分段,并在部分逻辑分段前加入虚拟标记位向量,虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量;将具有虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载到待测器件上完成测试,并将测试结果在位图中示出;以及通过起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址。本发明通过虚拟标记位后的起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址,实现了定位了失效的测试向量在测试向量集中的位置,使得调试的工作可以很容易的进行。- 发布时间:2023-06-07 12:13:29
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