发明

一种可提升硅片方阻均匀性的扩散炉

2023-06-14 13:04:29 发布于四川 2
  • 申请专利号:CN202110570620.9
  • 公开(公告)日:2025-03-21
  • 公开(公告)号:CN113122927A
  • 申请人:广东科技学院
摘要:本发明属于半导体扩散工艺设备领域,公开一种可提升硅片方阻均匀性的扩散炉,包括:炉门、炉体、进气管、出气管和隔热部,炉体一侧开口,炉门安装在炉体的开口处,炉门一端与炉体铰接,进气管和出气管分别与炉体连通,进气管至少为两个,炉体内靠近炉门一侧活动设置有隔热部。本方案可以使炉口气体浓度以及停留时间增加,并采用多路进气管,改善炉口处气体均匀性,提升了炉口附近硅片方阻扩散的均匀性。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113122927 A (43)申请公布日 2021.07.16 (21)申请号 202110570620.9 (22)申请日 2021.05.25 (71)申请人 中南大学 地址 410083 湖南省长沙市岳麓区麓山南 路932号 (72)发明人 周继承 曾世魁  (74)专利代理机构 北京东方盛凡知识产权代理 事务所(普通合伙) 11562 代理人 张换君 (51)Int.Cl. C30B 31/10 (2006.01) C30B 31/16 (2006.01) C30B 29/06 (2006.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图5页 (54)发明名称 一种可提升硅片方阻均匀性的扩散炉 (57)摘要 本发明属于半导体扩散工艺设备领域,公开 一种可提升硅片方阻均匀性的扩散炉,包括:炉 门、炉体、进气管、出气管和隔热部,炉体一侧开 口,炉门安装在炉体的开口处,炉门一端与炉体 铰接,进气管和出气管分别与炉体连通,进气管 至少为两个,炉体内靠近炉门一侧活动设置有隔 热部。本方案可以使炉口气体浓度以及停留时间 增加,并采用多路进气管,改善炉口处气体均匀 性,提升了炉口附近硅片方阻扩散的均匀性。 A 7 2 9 2 2 1 3 1 1 N C CN 113122927 A 权 利 要 求 书

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