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PCT发明

使用内置自测控制器测试只读存储器

2023-06-11 12:28:28 发布于四川 1
  • 申请专利号：CN201980070484.8
  • 公开（公告）日：2025-06-06
  • 公开（公告）号：CN112912958A
  • 申请人：德州仪器公司
摘要：一种系统包含易失性存储装置(106)、只读存储器ROM(104)、存储器内置自测BIST控制器(110)及中央处理单元CPU(102)。所述CPU(102)在发生复位事件后即刻执行来自所述ROM(104)的第一指令，以致使所述CPU(102)将指令从所述ROM(104)中的一系列地址拷贝到所述易失性存储装置(106)。所述CPU(102)还执行来自所述ROM(104)的第二指令以改变程序计数器。所述CPU(102)进一步使用所述程序计数器执行来自所述易失性存储装置(106)的所述指令。所述CPU(102)在执行来自所述易失性存储装置(106)的所述指令时，致使所述ROM(104)进入测试模式且致使所述存储器BIST控制器(110)经配置以测试所述ROM(104)。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112912958 A (43)申请公布日 2021.06.04 (21)申请号 201980070484.8 P ·T ·印乌甘狄　 R ·C ·屋良维阿西娜哈利　 (22)申请日 2019.10.29 A ·阿查里雅　J ·辛格　 (30)优先权数据 N ·A ·纳拉亚南　 62/751,873 2018.10.29 US (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 62/785,953 2018.12.28 US 责任公司 11287 16/271,660 2019.02.08 US 代理人 林斯凯 (85)PCT国际申请进入国家阶段日 (51)Int.Cl. 2021.04.25 G11C 29/12 (2006.01) (86)PCT国际申请的申请数据

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