存储器检测方法、集成电路装置、存储介质及激光雷达2025

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118072804 A (43)申请公布日 2024.05.24 (21)申请号 202211726916.6 (22)申请日 2022.12.30 (71)申请人 深圳市速腾聚创科技有限公司 地址 518000 广东省深圳市南山区桃源街 道平山社区留仙大道1213号众冠红花 岭工业南区2区9栋1层 (72)发明人 廖裕民　 (74)专利代理机构 北京恒博知识产权代理有限 公司 11528 专利代理师 向武桥 (51)Int.Cl. G11C 29/12 (2006.01) G06F 13/16 (2006.01) 权利要求书3页 说明书12页 附图5页 (54)发明名称 存储器检测方法、集成电路装置、存储介质 及激光雷达 (57)摘要 本申请实施例公开了一种存储器检测方法、 集成电路装置、存储介质及激光雷达，涉及集成 电路技术领域。该方法包括：确定当前检测分区， 当前检测分区为多个预设的存储分区中的一个 存储分区；接收访问端发起的针对存储器的访问 命令；若访问命令为针对当前检测分区的访问命 令，则对访问命令进行拦截；若访问命令为针对 存储器的当前检测分区之外的区域的访问命令， 则将访问命令发送至存储器；对当前检测分区进 行检测。根据本申请实施例的技术方案，能够改 善当前存储器持续不能进行访问的时间较长，而 A 使得芯片的性能受到影响的现状。 4 0 8 2 7 0 8 1