非易失性存储器的检测方法及相关设备

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113270135 A (43)申请公布日 2021.08.17 (21)申请号 202110592072.X (22)申请日 2021.05.28 (71)申请人 西安紫光国芯半导体有限公司 地址 710075 陕西省西安市高新区丈八街 办高新六路38号A座4楼 (72)发明人 吕晶　 (74)专利代理机构 北京众达德权知识产权代理 有限公司 11570 代理人 吴莹 (51)Int.Cl. G11C 29/14 (2006.01) G11C 29/12 (2006.01) G11C 29/56 (2006.01) 权利要求书2页 说明书10页 附图2页 (54)发明名称 非易失性存储器的检测方法及相关设备 (57)摘要 本申请实施例提供了一种非易失性存储器 的检测方法及相关设备，其中非易失性存储器的 检测方法包括：控制服务器模拟器向非易失性存 储器发送设定格式数据；向非易失性存储器发送 保存指令，并在非易失性存储器响应于保存指令 后，断开非易失性存储器的外部电源；向非易失 性存储器发送恢复指令；在监测到非易失性存储 器完成恢复动作后，获取非易失性存储器中存储 的恢复数据，并将恢复数据与设定格式数据进行 比对，以得到非易失性存储器的检测结果。该非 易失性存储器的检测方法检测过程无需依赖于 服务器，整个检测过程不会涉及到服务器的重 A 启，能够节省服务器重启所需的时间，能够大大 5 减