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一种线性模型推算氟利昂的分子同位素丰度的方法2025

2023-10-13 07:15:44 发布于四川 8
  • 申请专利号:CN202310685279.0
  • 公开(公告)日:2025-06-10
  • 公开(公告)号:CN116864013A
  • 申请人:核工业理化工程研究院
摘要:本发明公开了一种线性模型推算氟利昂的分子同位素丰度的方法,包括以下步骤:确定氟利昂在同位素分析过程中可以形成离子碎片的种类;选取所述离子碎片中离子信号强的离子碎片作为同位素丰度测量的接收离子;确定每一个接收离子的同位素个数及其质量数;对每一个接收离子的同位素按质量数由小到大进行排列、分层,测定氟利昂样品中每一个接收离子的的同位素丰度;将每一个接收离子的同位素丰度按步骤4中质量数的层级重新排队;以碳原子的数目为横坐标、同位素丰度为纵坐标,对将相应的坐标点连接成线,得到碎片同位素丰度随碳原子数目变化图;利用线性推断的方法推算出氟利昂中相同质量数层级的分子同位素丰度。本发明的分析方法简单,可靠性高。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116864013 A (43)申请公布日 2023.10.10 (21)申请号 202310685279.0 (22)申请日 2023.06.09 (71)申请人 核工业理化工程研究院 地址 300000 天津市河东区津塘路168号 (72)发明人 徐作文  (74)专利代理机构 天津创智睿诚知识产权代理 有限公司 12251 专利代理师 李薇 (51)Int.Cl. G16C 10/00 (2019.01) G16C 20/80 (2019.01) 权利要求书2页 说明书14页 附图16页 (54)发明名称 一种线性模型推算氟利昂的分子同位素丰 度的方法 (57)摘要 本发明公开了一种线性模型推算氟利昂的 分子同位素丰度的方法,包括以下步骤:确定氟 利昂在同位素分析过程中可以形成离子碎片的 种类;选取所述离子碎片中离子信号强的离子碎 片作为同位素丰度测量的接收离子;确定每一个 接收离子的同位素个数及其质量数;对每一个接 收离子的同位素按质量数由小到大进行排列、分 层,测定氟利昂样品中每一个接收离子的的同位 素丰度;将每一个接收离子的同位素丰度按步骤 4中质量数的层级重新排队 ;以碳原子的数目为 横坐标、同位素丰度为纵坐标,对将相应的坐标 A 点连接成线,得到碎片同位素丰度随碳原子数目 3 变化图 ;利用线性推断的方法推算出氟利昂中相 1 0 4 同质量数层级的分子同位素丰度。本发明的分析 6 8 6 方法简单,可靠性高

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