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发明

一种半导体数据测试方法及测试异常预警系统2025

2024-04-16 07:24:17 发布于四川 4
  • 申请专利号：CN202410049815.2
  • 公开（公告）日：2025-04-11
  • 公开（公告）号：CN117874494A
  • 申请人：联测优特半导体(东莞)有限公司
摘要：本发明公开了一种半导体数据测试方法及测试异常预警系统，属于半导体数据测试技术领域，包括如下步骤：S1：基于半导体数据测试异常预警需求，确定出半导体数据测试信息；S2：基于顺序检索方法及特征提取，确定出半导体测试特征数据；S3：基于半导体测试标准数据，对半导体测试特征数据进行对比分析，确定出相应的半导体数据测试分析结果；S4：基于半导体数据测试异常预警方法对半导体数据测试进行异常预警。本发明解决了现有的不能对半导体数据测试进行异常预警，使得半导体数据测试效果差的问题，本发明可对半导体数据测试进行异常预警，使测试人员能及时了解半导体数据测试情况，提升半导体数据测试效果。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117874495 A (43)申请公布日 2024.04.12 (21)申请号 202410064246.9 G06Q 10/04 (2023.01) H02J 3/00 (2006.01) (22)申请日 2024.01.17 G06N 3/0464 (2023.01) (71)申请人 昆明理工大学 G06N 3/045 (2023.01) 地址 650000 云南省昆明市一二一大街文 G06N 3/0442 (2023.01) 昌路68号 G06F 18/243 (2023.01) (72)发明人 钱晶　付琳琳　李佳　曾云　丁桓　 G06N 5/01 (2023.01) 李想　张兼博　唐跨纪　许潇尹　 G06N 3/006 (2023.01) G06N 3/0985 (2023.01) (74)专利代理机构 昆明普发诺拉知识产权代理 G06N 3

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