发明

比幅测向系统HPM毁伤效应评估方法、评估系统及评估装置2025

2024-04-21 07:19:03 发布于四川 37
  • 申请专利号:CN202410030710.2
  • 公开(公告)日:2025-04-15
  • 公开(公告)号:CN117892515A
  • 申请人:中国工程物理研究院应用电子学研究所
摘要:本发明提供了一种比幅测向系统HPM毁伤效应评估方法、评估系统及评估装置,用于评估高功率微波对比幅测向系统性能参数的影响,包括:设置评估目标特性参数;模拟评估目标接收天线耦合高功率微波的过程,并得到高功率微波耦合参数;通过对高功率微波耦合参数进行处理,获得评估目标敏感部组件的毁伤效应等级参数;根据评估目标部组件的毁伤效应等级参数、评估目标的理论最大探测距离及理论测向精度解算模型,获得评估目标部组件不同毁伤效应等级对应的评估目标的最大探测距离下降程度和测向精度误差参数。解决了相关技术中缺乏对比幅测向系统在外部高功率微波环境下的性能影响的评估以及试验前的毁伤预测评估方法的技术问题。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117892515 A (43)申请公布日 2024.04.16 (21)申请号 202410030710.2 (22)申请日 2024.01.09 (71)申请人 中国工程物理研究院应用电子学研 究所 地址 621900 四川省绵阳市游仙区绵山路 64号919-1015信箱 (72)发明人 陈自东 赵景涛 冯溪溪 曹垒  袁欢 戈弋 赵刚 陈朝阳 刘忠  (74)专利代理机构 北京同辉知识产权代理事务 所(普通合伙) 11357 专利代理师 侯春扬 (51)Int.Cl. G06F 30/20 (2020.01) G06Q 10/0639 (2023.01) G06F 17/10 (2006.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图3页 (54)发明名称 比幅测向系统HPM毁伤效应评估方法、评估 系统及评估装置 (57)摘要 本发明提供了一种比幅测向系统HPM毁伤效 应评估方法、评估系统及评估装置,用于评估高 功率微波对比幅测向系统性能参数的影响,包 括:设置评估目标特性参数;模拟评估目标接收 天线耦合高功率微波的过程,并得到高功率微波 耦合参数;通过对高功率微波耦合参数进行处 理,获得评估目标敏感部组件的毁伤效应等级参 数;根据评估目标部组件的毁伤效应等级参数、 评估目标的理论最大探测距离及理论测向精度 解算模型,获得评估目标部组件不

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