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发明

一种漏苗检测和定位的方法、设备及存储介质2025

2024-06-01 07:59:35 发布于四川 4
  • 申请专利号：CN202410220720.2
  • 公开（公告）日：2025-04-15
  • 公开（公告）号：CN118096690A
  • 申请人：深圳市纬尔科技有限公司
摘要：本发明公开了一种漏苗检测和定位的方法、设备及存储介质，包括步骤：S1：标注样本、S2：训练检测模型、S3：位置标定、S4：使用过程、S5：计算漏苗率和S6：结果输出；本发明通过图像深度学习技术对水稻苗进行实时监控检测，利用图像深度学习技术对水稻苗进行实时监控检测，计算水稻苗漏苗比例以及漏苗所在位置，从而可以人工补苗，再并计算漏苗比例，可以帮助农民或操作人员及时了解水稻苗的生长情况，及早采取相应的措施，以提高水稻种植的效率和产量，能够准确地确定漏苗位置并计算漏苗率，为农业生产提供有效的决策支持，从而提高农作物的产量和质量。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118096690 A (43)申请公布日 2024.05.28 (21)申请号 202410220720.2 G06T 7/194 (2017.01) G06N 3/08 (2023.01) (22)申请日 2024.02.27 (71)申请人 深圳市纬尔科技有限公司 地址 518038 广东省深圳市龙岗区坂田街 道杨美社区长发中路7号云里智能园8 栋一层103单元 (72)发明人 张上鑫　吴帆　臧广义　韦瑞新　 莫哲　 (74)专利代理机构 广州开耀专利代理事务所 (普通合伙) 44708 专利代理师 冯肖肖 (51)Int.Cl. G06T 7/00 (2017.01) G06T 7/136 (2017.01) G06T 7/187 (2017.01) 权利要求书3页 说明书9页 附图5页 (54)发明名称 一种漏苗检测和定位的方法、设备及存储介 质 (57)摘要 本发明公开了一种漏苗检测和定位的方法、 设备及存储介质，包括步骤：S1：标注样本、S2：训 练检测模型、S3：位置标定、S4：使用过程、S5：计 算漏苗率和S6：结果输出；本发明通过图像深度 学习技术对水稻苗进行实时监控检测，利用图像 深度学习技术对水稻苗进行实时

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