存储器件及其操作方法
- 申请专利号:CN202011213293.3
- 公开(公告)日:2025-06-13
- 公开(公告)号:CN113053432A
- 申请人:三星电子株式会社
专利内容
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113053432 A (43)申请公布日 2021.06.29 (21)申请号 202011213293.3 (22)申请日 2020.11.03 (30)优先权数据 10-2019-0175689 2019.12.26 KR (71)申请人 三星电子株式会社 地址 韩国京畿道 (72)发明人 崔容赫 南尚完 (74)专利代理机构 中科专利商标代理有限责任 公司 11021 代理人 纪雯 (51)Int.Cl. G11C 8/08 (2006.01) G11C 8/14 (2006.01) 权利要求书3页 说明书23页 附图27页 (54)发明名称 存储器件及其操作方法 (57)摘要 一种存储器件,包括:存储器单元阵列,包括 分别连接在串选择线与接地选择线之间的单元 串;字线,连接到存储器单元;控制逻辑,生成提 供给所述串选择线的第一电压和提供给所述接 地选择线的第二电压,并且调整所述第一电压和 所述第二电压的电压电平以控制所述单元串的 沟道升压电平;以及行解码器,在所述控制逻辑 的控制下将读电压、读通过电压、以及所述第一 电压和所述第二电压提供给所述存储单元阵列。 所述控制逻辑生成所述第一电压和所述第二电 压中的一个作为预脉冲电压。所述行解码器将第 三电压提供给所述字线中的至少一个。 A 2 3 4 3 5 0 3 1 1 N C CN 113053432 A
最新专利
- 一种感应放大电路、方法和半导体存储器公开日期:2025-07-11公开号:CN116486850A申请号:CN202210041966.4一种感应放大电路、方法和半导体存储器
- 发布时间:2023-07-28 07:13:570
- 申请号:CN202210041966.4
- 公开号:CN116486850A
- 反熔丝读出电路、反熔丝存储器以及测试方法公开日期:2025-07-11公开号:CN116343847A申请号:CN202111602087.6反熔丝读出电路、反熔丝存储器以及测试方法
- 发布时间:2023-06-29 07:07:360
- 申请号:CN202111602087.6
- 公开号:CN116343847A
- 反熔丝存储器及其控制方法公开日期:2025-07-11公开号:CN116343874A申请号:CN202111602083.8反熔丝存储器及其控制方法
- 发布时间:2023-06-29 07:07:360
- 申请号:CN202111602083.8
- 公开号:CN116343874A
- 半导体装置公开日期:2025-07-11公开号:CN113409836A申请号:CN202110012056.9半导体装置
- 发布时间:2023-06-23 08:07:020
- 申请号:CN202110012056.9
- 公开号:CN113409836A
- 存储芯片以及存储系统公开日期:2025-07-11公开号:CN116246675A申请号:CN202111493167.2存储芯片以及存储系统
- 发布时间:2023-06-11 13:07:410
- 申请号:CN202111493167.2
- 公开号:CN116246675A
- 存储系统公开日期:2025-07-11公开号:CN116246674A申请号:CN202111493134.8存储系统
- 发布时间:2023-06-11 13:07:410
- 申请号:CN202111493134.8
- 公开号:CN116246674A