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用于阳极检查的X射线荧光(XRF)映射

2023-06-03 12:25:38 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202211264603.3
  • 公开(公告)日:2023-06-02
  • 公开(公告)号:CN116203055A
  • 申请人:通用汽车环球科技运作有限责任公司
摘要:本公开的各方面包括利用铜集流体的X射线荧光(XRF)映射进行薄锂金属阳极的非接触、非破坏性的线上质量检查。示例性方法可以包括在XRF检测器的检测表面处接收电极。电极可以包括在集流体的表面上的锂阳极。X射线穿过锂阳极并进入集流体,并且在XRF检测器处测量从集流体返回的特性辐射的强度。可以基于所测量的来自集流体的特性辐射的强度来推断锂阳极特性。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116203055 A (43)申请公布日 2023.06.02 (21)申请号 202211264603.3 (22)申请日 2022.10.17 (30)优先权数据 17/539,421 2021.12.01 US (71)申请人 通用汽车环球科技运作有限责任公 司 地址 美国密歇根州 (72)发明人 S.许 M.P.巴洛格 D.B.哈达德  (74)专利代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 专利代理师 贺紫秋 (51)Int.Cl. G01N 23/223 (2006.01) H01M 4/134 (2010.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图5页 (54)发明名称 用于阳极检查的X射线荧光(XRF)映射 (57)摘要 本公开的各方面包括利用铜集流体的X射线 荧光 (XRF)映射进行薄锂金属阳极的非接触、非 破坏性的线上质量检查。示例性方法可以包括在 XRF检测器的检测表面处接收电极。电极可以包 括在集流体的表面上的锂阳极。X射线穿过锂阳 极并进入集流体,并且在XRF检测器处测量从集 流体返回的特性辐射的强度。可以基于所测量的 来自集流体的特性辐射的强度来推断锂阳极特 性。 A 5 5 0 3 0 2 6 1 1 N C CN 116203055 A 权 利 要 求 书

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