发明

一种非晶衬底上高质量AlGaN材料的范德华外延方法

2023-05-28 09:11:01 发布于四川 5
  • 申请专利号:CN202211646481.4
  • 公开(公告)日:2025-05-16
  • 公开(公告)号:CN115976644A
  • 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要:本发明提供一种非晶衬底上高质量AlGaN材料的范德华外延方法,属于半导体技术领域。本发明的方法包括以下步骤:在非晶衬底上转移第一二维材料层并进行处理;在处理后的第一二维材料层上转移第二二维材料层并进行氢化钝化处理;通过范德华外延生长在第一二维材料层和第二二维材料层之间形成二维AlGaN材料预制层;通过同质范德华外延生长,采用两步法生长在第二二维材料层上形成三维AlGaN材料薄膜。本发明采用两层二维材料进一步缓解非晶衬底对外延层的影响,大幅降低应力与位错,提高晶体质量,为AlGaN基光电器件的大面积应用提供了帮助,具有工艺简单,效果显著,应用前景广阔等优点。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115976644 A (43)申请公布日 2023.04.18 (21)申请号 202211646481.4 (22)申请日 2022.12.21 (71)申请人 中国科学院长春光学精密机械与物 理研究所 地址 130033 吉林省长春市经济技术开发 区东南湖大路3888号 (72)发明人 孙晓娟 吕炳辰 陈洋 张山丽  贲建伟 蒋科 黎大兵  (74)专利代理机构 深圳市科进知识产权代理事 务所(普通合伙) 44316 专利代理师 张俊锋 (51)Int.Cl. C30B 29/40 (2006.01) C30B 25/18 (2006.01) H01L 21/02 (2006.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图1页 (54)发明名称 一种非晶衬底上高质量AlGaN材料的范德华 外延方法 (57)摘要 本发明提供一种非晶衬底上高质量AlGaN材 料的范德华外延方法,属于半导体技术领域。本 发明的方法包括以下步骤:在非晶衬底上转移第 一二维材料层并进行处理;在处理后的第一二维 材料层上转移第二二维材料层并进行氢化钝化 处理;通过范德华外延生长在第一二维材料层和 第二二维材料层之间形成二维AlGaN材料预制 层;通过同质范德华外延生长,采用两步法生长 在第二二维材料层上形成三维AlGaN材料薄膜。 本发明采用两层二维材料进一步缓解非

最新专利