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PCT发明

用于检测具有时变位错误率的存储器中的缺陷的方法和设备

2023-06-17 07:21:44 发布于四川 0
  • 申请专利号：CN201980088355.1
  • 公开（公告）日：2025-07-04
  • 公开（公告）号：CN113272905A
  • 申请人：美光科技公司
摘要：本文描述了与具有时变位错误率的存储器系统的存储器组件中的缺陷检测相关的实施例。处理装置进行错误恢复流程(ERF)以恢复数据单元，所述数据单元包括数据和指示何时写入所述数据单元的写入时间戳。所述处理装置使用对应于所述读取操作的位错误率(BER)和所述数据单元中的所述写入时间戳来确定是否进行缺陷检测操作以检测所述存储器组件中的缺陷。所述处理装置响应于所计算的W2R(基于所述写入时间戳)不期望所述BER条件来发起所述缺陷检测操作。所述处理装置能够使用ERF条件和所述写入时间戳来确定是否进行所述缺陷检测操作。所述处理装置响应于所计算的W2R(基于所述写入时间戳)不期望所述ERF条件来发起所述缺陷检测操作。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113272905 A (43)申请公布日 2021.08.17 (21)申请号 201980088355.1 (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 (22)申请日 2019.12.10 代理人 王龙 (30)优先权数据 (51)Int.Cl. 16/215,267 2018.12.10 US G11C 29/12 (2006.01) (85)PCT国际申请进入国家阶段日 2021.07.08 (86)PCT国际申请的申请数据 PCT/US2019/065380 2019.12.10 (87)PCT国际申请的公布数据 WO2020/123446 EN 2020.06.18 (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 陈振刚　S ·K ·米拉瓦拉普　 沈震雷　谢廷俊　C ·S ·光　 权利要求书4页 说明书12页 附图7页 (54)发明名称 具有时变位错误率的存储器中的缺陷检测 (57)

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