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一种基于TFLN激光器的dither信号滤波及采样方法2025
2025-05-07 12:21:57
发布于四川
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- 申请专利号:CN202411851461.X
- 公开(公告)日:2025-05-06
- 公开(公告)号:CN119945361A
- 申请人:武汉联特科技股份有限公司
摘要:一种基于TFLN激光器的dither信号滤波及采样方法,所述方法包括:步骤1,将低频dither信号的基波/二次谐波加载于光模块的光生电流中;步骤2,将加载有dither信号的基波/二次谐波的光生电流信号通过运放电路放大后分成两路输出;步骤3,将所述两路输出中的第一路输出通过低通RC滤波电路后进行光功率采样以监控出光功率,将所述两路输出中的第二路输出再分成基波支路和二次谐波支路;步骤4,将所述基波支路和二次谐波支路分别通过对应的选频滤波与放大电路以及后端放大及加偏置电路后,得到基波信号和二次谐波信号,并输出给ADC采样模块进行采样。本发明实现了对dither的基波和二次谐波的有效采样。
专利内容
一种基于TFLN激光器的dither信号滤波及采样方法,所述方法包括:步骤1,将低频dither信号的基波/二次谐波加载于光模块的光生电流中;步骤2,将加载有dither信号的基波/二次谐波的光生电流信号通过运放电路放大后分成两路输出;步骤3,将所述两路输出中的第一路输出通过低通RC滤波电路后进行光功率采样以监控出光功率,将所述两路输出中的第二路输出再分成基波支路和二次谐波支路;步骤4,将所述基波支路和二次谐波支路分别通过对应的选频滤波与放大电路以及后端放大及加偏置电路后,得到基波信号和二次谐波信号,并输出给ADC采样模块进行采样。本发明实现了对dither的基波和二次谐波的有效采样。H03H7/06(2006.01);H04B10/50(2013.01);H03M1/12(2006.01)
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