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PCT发明

再扫描光学系统、显微镜及方法2025

2024-03-02 07:52:08 发布于四川 0
  • 申请专利号：CN202280044518.8
  • 公开（公告）日：2025-07-18
  • 公开（公告）号：CN117616318A
  • 申请人：共聚焦荷兰有限责任公司
摘要：提供了一种再扫描光学系统，其包括扫描元件和第一光学元件，该第一光学元件定义通向扫描元件的用于将一束照明光引导到扫描元件上以提供来自扫描元件的扫描照明光束的入射照明光束路径；第二光学元件，其定义用于将来自扫描元件的扫描照明光束引导向样品并且照明样品从而产生样品光，和用于将捕获的样品光束引导到扫描元件上以提供来自扫描元件的反扫描样品光束的扫描样品光路；第三光学元件，其定义用于从扫描元件将至少一部分反扫描的样品光束引导返回到扫描元件上以提供来自扫描元件的反扫描样品光束的反扫描光束路径；和第四光学元件，其定义用于将再扫描样品光束引导朝向成像系统的成像平面的再扫描光束路径。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117616318 A (43)申请公布日 2024.02.27 (21)申请号 202280044518.8 (74)专利代理机构 苏州创元专利商标事务所有 限公司 32103 (22)申请日 2022.06.20 专利代理师 冯尚杰 (30)优先权数据 (51)Int.Cl . 2028507 2021.06.22 NL G02B 21/00 (2006.01) (85)PCT国际申请进入国家阶段日 2023.12.22 (86)PCT国际申请的申请数据 PCT/NL2022/050346 2022.06.20 (87)PCT国际申请的公布数据 WO2022/271012 EN 2022.12.29 (71)申请人 共聚焦荷兰有限责任公司 地址 荷兰阿姆斯特丹 (72)发明人 S ·G ·E ·兰佩尔特　 E ·M ·M ·曼德斯　 弗洛里安·弗雷德里克·斯特尔　 权利要求书3页 说明书9页 附图3页 (54)发明名称 径段在第一光束路径

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