PCT发明

波前传感器及相关量测装置

2023-06-23 07:23:53 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN201980090213.9
  • 公开(公告)日:2024-05-31
  • 公开(公告)号:CN113348412A
  • 申请人:ASML荷兰有限公司
摘要:公开了一种波前传感器,其用于测量波前在跨辐射束的位置阵列处的倾斜,其中所述波前传感器包括例如由锆制成的膜,该膜具有凹痕阵列,该凹痕阵列包括在所述位置阵列中的每个位置处的凹痕,使得凹痕阵列的每个凹痕可操作用于执行所述辐射的聚焦。还公开了一种包括这种波前传感器的辐射源和检查装置。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113348412 A (43)申请公布日 2021.09.03 (21)申请号 201980090213.9 (74)专利代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 (22)申请日 2019.12.19 代理人 赵林琳 郑振 (30)优先权数据 (51)Int.Cl. 19153671.3 2019.01.25 EP G03F 7/20 (2006.01) (85)PCT国际申请进入国家阶段日 G01J 9/00 (2006.01) 2021.07.23 H05G 2/00 (2006.01) (86)PCT国际申请的申请数据 G02B 3/00 (2006.01) PCT/EP2019/086296 2019.12.19 G02B 5/18 (2006.01) (87)PCT国际申请的公布数据 WO2020/151891 EN 2020.07.30 (71)申