发明

具有存取线控制的存储器阵列

2023-06-11 12:53:47 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202011239763.3
  • 公开(公告)日:2025-04-25
  • 公开(公告)号:CN112951293A
  • 申请人:美光科技公司
摘要:本申请针对具有存取线控制的存储器阵列。一种示范性设备包含存储器单元阵列。每个存储器单元包含存取装置。每个存取装置包含第一源极/漏极区域、第二源极/漏极区域以及与连接所述第一源极/漏极区域和所述第二源极/漏极区域的沟道相对的栅极。每个存取装置还包含存储节点。所述示范性设备还包含多条感测线,所述多条感测线耦合到所述存储器单元阵列中的不同相应的存储器单元的所述第一源极/漏极区域。所述示范性设备还包含多条存取线,其中每条存取线包含至少一个导电通路,所述至少一个导电通路形成于所述存取线与耦合到所述存取线的存取装置的源极/漏极区域之间。所述示范性设备还包含分路感测线,所述分路感测线耦合到形成有所述导电通路的附加存取装置。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112951293 A (43)申请公布日 2021.06.11 (21)申请号 202011239763.3 (22)申请日 2020.11.09 (30)优先权数据 16/710,687 2019.12.11 US (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 李继云  (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 代理人 王龙 (51)Int.Cl. G11C 11/4067 (2006.01) G11C 11/4063 (2006.01) 权利要求书2页 说明书9页 附图6页 (54)发明名称 具有存取线控制的存储器阵列 (57)摘要 本申请针对具有存取线控制的存储器阵列。 一种示范性设备包含存储器单元阵列。每个存储 器单元包含存取装置。每个存取装置包含第一源 极/漏极区域、第二源极/漏极区域以及与连接所 述第一源极/漏极区域和所述第二源极/漏极区 域的沟道相对的栅极。每个存取装置还包含存储 节点。所述示范性设备还包含多条感测线,所述 多条感测线耦合到所述存储器单元阵列中的不 同相应的存储器单元的所述第一源极/漏极区 域。所述示范性设备还包含多条存取线,其中每 条存取线包含至少一个导电通路,所述至少一个 导电通路形成于所述存取线与耦合到所述存取 A 线的存取装置的源极/漏极区域之间。所述示范 3 性设备还包含分路感测线,所述分路感测线耦合 9

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