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发明

一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统2025

2024-04-11 07:24:48 发布于四川 1
  • 申请专利号：CN202311726319.8
  • 公开（公告）日：2025-05-16
  • 公开（公告）号：CN117852455A
  • 申请人：武汉芯必达微电子有限公司
摘要：本发明公开一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统，方法包括：在Emulation阶段，先通过设置特殊内存区域的方式对待测ADC模块进行数字逻辑验证；再通过外接ADC芯片对待测ADC模块进行通路验证；在Verify阶段，通过自动控制待测ADC模块的模拟输入实现自动化验证。本发明通过在Emulation阶段引入数字逻辑验证和通路验证，来减少验证风险、减小验证成本，并通过在Verify阶段控制ADC模块的模拟输入电压实现自动化验证，来提高验证效率。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117852455 A (43)申请公布日 2024.04.09 (21)申请号 202311726319.8 (22)申请日 2023.12.15 (71)申请人 武汉芯必达微电子有限公司 地址 430000 湖北省武汉市东湖高新区华 翔中心A2栋16楼 (72)发明人 付惠兰　 (74)专利代理机构 南京纵横知识产权代理有限 公司 32224 专利代理师 毕琼 (51)Int.Cl. G06F 30/33 (2020.01) G06F 30/327 (2020.01) G06F 115/02 (2020.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图4页 (54)发明名称 一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统 (57)摘要 本发明公开一种ADC模块自动化芯片验证方 法及系统，方法包括：在Emulation阶段，先通过 设置特殊内存区域的方式对待测ADC模块进行数 字逻辑验证；再通过外接ADC芯片对待测ADC模块 进行通路验证；在Verify阶段，通过自动控制待 测ADC模块的模拟输入实现自动化验证。本发明 通过在Emulation阶段引入数字逻辑验证和通路 验证，来减少验证风险、减小验证成本，并通过在 Verify阶段控制ADC模块的模拟输入电压实现自 动化验证，来提高验证效率。 A 5 5 4 2 5 8 7 1 1 N C CN 117852455 A

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