发明

一种标准单元的传输延迟确定方法及装置

2023-07-05 07:12:58 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202111083871.0
  • 公开(公告)日:2025-05-23
  • 公开(公告)号:CN113793630A
  • 申请人:海光信息技术股份有限公司
摘要:本发明实施例公开一种标准单元的传输延迟确定方法及装置,涉及半导体技术领域,能够有效提高标准单元老化后的计算准确性,增强芯片可靠性。所述方法包括:根据预设的标准单元老化模型确定标准单元库中标准单元的输入引脚在预设老化条件下的电容,得到老化引脚电容;当利用所述标准单元库中的标准单元构建电路时,根据输入本级标准单元的信号的输入过渡时间及所述本级标准单元的外接负载电容,确定所述本级标准单元的传输延迟,其中,所述外接负载电容包括:与所述本级标准单元的输出端相连的下一级标准单元的所述老化引脚电容,以及所述本级标准单元与所述下一级标准单元之间的互连线的电容。本发明适用于芯片设计中。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113793630 A (43)申请公布日 2021.12.14 (21)申请号 202111083871.0 (22)申请日 2021.09.14 (71)申请人 海光信息技术股份有限公司 地址 300000 天津市滨海新区天津华苑产 业区海泰西路18号北2-204工业孵化- 3-8 (72)发明人 张冠群 张晓强 南海卿  (74)专利代理机构 北京市广友专利事务所有限 责任公司 11237 代理人 张仲波 (51)Int.Cl. G11C 11/4074 (2006.01) 权利要求书3页 说明书10页 附图4页 (54)发明名称 一种标准单元的传输延迟确定方法及装置 (57)摘要 本发明实施例公开一种标准单元的传输延 迟确定方法及装置,涉及半导体技术领域,能够 有效提高标准单元老化后的计算准确性,增强芯 片可靠性。所述方法包括:根据预设的标准单元 老化模型确定标准单元库中标准单元的输入引 脚在预设老化条件下的电容,得到老化引脚电 容;当利用所述标准单元库中的标准单元构建电 路时,根据输入本级标准单元的信号的输入过渡 时间及所述本级标准单元的外接负载电容,确定 所述本级标准单元的传输延迟,其中,所述外接 负载电容包括:与所述本级标准单元的输出端相 连的下一级标准单元的所述老化引脚电容,以及 A 所述本级标准单元与所述下一级标准单元之间 0 的互连线的电容。本发明适用于芯片设计中。 3 6

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