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具有继电器系统的功能测试设备以及使用其的测试方法

2023-05-06 09:52:44 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202110941856.9
  • 公开(公告)日:2025-04-11
  • 公开(公告)号:CN114333974A
  • 申请人:南亚科技股份有限公司
摘要:本公开提供一种电子元件的功能测试设备以及该电子元件的测试方法。该功能测试设备具有一第一电源供应器、一第二电源供应器以及一继电器系统。该第一电源供应器经配置以产生一第一供应电压。该第二电源供应器经配置以产生一第二供应电压,该第二供应电压不同于该第一供应电压。该继电器系统经配置以电性耦接该第一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元件,其中该第一供应电压施加到该电子元件一第一持续时间,以及该第二供应电压施加到该电子元件一第二持续时间,该第二持续时间小于该第一持续时间。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114333974 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202110941856.9 (22)申请日 2021.08.17 (30)优先权数据 17/035,028 2020.09.28 US (71)申请人 南亚科技股份有限公司 地址 中国台湾新北市 (72)发明人 杨吴德  (74)专利代理机构 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人 黄艳 郑特强 (51)Int.Cl. G11C 29/56 (2006.01) 权利要求书2页 说明书13页 附图15页 (54)发明名称 具有继电器系统的功能测试设备以及使用 其的测试方法 (57)摘要 本公开提供一种电子元件的功能测试设备 以及该电子元件的测试方法。该功能测试设备具 有一第一电源供应器、一第二电源供应器以及一 继电器系统。该第一电源供应器经配置以产生一 第一供应电压。该第二电源供应器经配置以产生 一第二供应电压,该第二供应电压不同于该第一 供应电压。该继电器系统经配置以电性耦接该第 一电源供应器或该第二电源供应器到该电子元 件,其中该第一供应电压施加到该电子元件一第 一持续时间,以及该第二供应电压施加到该电子 元件一第二持续时间,该第二持续时间小于该第 A 一持续时间。 4 7 9 3 3 3 4 1 1 N C CN 114333974 A 权 利 要 求 书

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