发明

一种利用斐索红外干涉仪测量红外镜头焦距的方法2025

2024-03-18 07:28:10 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202311822194.9
  • 公开(公告)日:2025-06-10
  • 公开(公告)号:CN117686189A
  • 申请人:南京理工大学|||南京英特飞光电技术有限公司
摘要:本发明公开了一种利用斐索红外干涉仪测量红外镜头焦距的方法,先搭建红外镜头透射波前的测量光路,采集其透射波前条纹的圈画Mask1以及整个视场的Mask2,关键在于圈画Mask的精度以及探测器的分辨率。其中干涉条纹的图像尺寸和视场图像尺寸等参数,使用干涉测量软件或者图像处理方法提取;本方法在红外干涉仪上实现,具有附加成本低、快速和便捷的特点,测量误差优于2%。可以应用于红外镜头的设计、制造和使用,为红外光学技术的发展和应用提供重要支持。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117686189 A (43)申请公布日 2024.03.12 (21)申请号 202311822194.9 (22)申请日 2023.12.27 (71)申请人 南京理工大学 地址 210094 江苏省南京市玄武区孝陵卫 200号 申请人 南京英特飞光电技术有限公司 (72)发明人 陈磊 袁彪 何勇 朱日宏 王青  郭逸民 黄晨  (74)专利代理机构 南京理工大学专利中心 32203 专利代理师 朱沉雁 (51)Int.Cl. G01M 11/02 (2006.01) G01B 9/02015 (2022.01) 权利要求书2页 说明书4页 附图3页 (54)发明名称 一种利用斐索红外干涉仪测量红外镜头焦 距的方法 (57)摘要 本发明公开了一种利用斐索红外干涉仪测 量红外镜头焦距的方法,先搭建红外镜头透射波 前的测量光路,采集其透射波前条纹的圈画 Mask 以及整个视场的Mask ,关键在于圈画Mask 1 2 的精度以及探测器的分辨率。其中干涉条纹的图 像尺寸和视场图像尺寸等参数,使用干涉测量软 件或者图像处理方法提取;本方法在红外干涉仪 上实现,具有附加成本低、快速和便捷的特点,测 量误差优于2%。可以应用于红外镜头的设计、制 造和使用,为红外光学技术的发展和应用提供重 要支持。 A 9 8 1 6 8

最新专利