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PCT发明

用于存储器系统上的保持自测试的系统、存储系统和方法

2023-06-23 07:30:55 发布于四川 1
  • 申请专利号：CN201980090741.4
  • 公开（公告）日：2025-06-03
  • 公开（公告）号：CN113366576A
  • 申请人：美光科技公司
摘要：本文描述了涉及存储器子系统中用于功率损耗操作的保持自测试的实施例。处理装置接收执行保持自测试以检测在功率损耗的情况下对所述处理装置和存储器组件供电的保持电路中的缺陷的请求。所述处理装置识别可用存储器的存储器位置，并且响应于检测到功率损耗，使用保持能量对所述存储器位置执行连续的写入操作序列，直到所有所述保持能量被消耗。在重启之后，所述处理装置确定在所有所述保持能量被消耗之前在所述存储器位置中成功完成的所述写入操作的数目。所述处理装置确定所述数目是否满足缺陷标准。响应于所述数目满足所述缺陷标准，所述处理装置报告与所述保持电路相关联的所述缺陷。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113366576 A (43)申请公布日 2021.09.07 (21)申请号 201980090741.4 (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 (22)申请日 2019.12.20 代理人 王龙 (30)优先权数据 (51)Int.Cl. 16/231,081 2018.12.21 US G11C 29/08 (2006.01) (85)PCT国际申请进入国家阶段日 G06F 1/30 (2006.01) 2021.07.29 G11C 16/34 (2006.01) (86)PCT国际申请的申请数据 G06F 3/06 (2006.01) PCT/US2019/068089 2019.12.20 (87)PCT国际申请的公布数据 WO2020/132591 EN 2020.06.25 (71)申请人 美光

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