智能存储器装置测试架

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112992263 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202011510696.4 (22)申请日 2020.12.18 (30)优先权数据 16/719,707 2019.12.18 US (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 G ·D ·哈默　M ·R ·斯皮卡　 D ·谢泼德　P ·卡拉赫尔　 J ·达罗查沙维斯　 (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 代理人 王龙 (51)Int.Cl. G11C 29/56 (2006.01) G11C 29/50 (2006.01) 权利要求书4页 说明书15页 附图8页 (54)发明名称 智能存储器装置测试架 (57)摘要 本申请涉及一种智能存储器装置测试架。一 种测试架包含两个或更多个存储器装置测试板， 其中每个存储器装置测试板包含两个或更多个 存储器装置测试资源。所述两个或更多个存储器 装置测试板中的每一个包含被分配给对应存储 器装置测试板的所述存储器装置测试资源的单 独处理装置。测试板的处理装置检测第一存储器 子系统已与所述对应存储器装置测试板的第一 存储器装置测试资源接合。所述处理装置识别将 针对所述第一存储器子系统的第一存储器装置 执行的第一测试，其中所述第一测试包含要在执 行所述第一测试时执行