GPIO驱动测试系统、方法、装置及存储介质2025

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117851150 A (43)申请公布日 2024.04.09 (21)申请号 202410052581.7 (22)申请日 2024.01.12 (71)申请人 广州致远电子股份有限公司 地址 510000 广东省广州市天河区软件园 思成路43号第3层306房 (72)发明人 周立功　杨韬　罗勇　王程　刘可　 (74)专利代理机构 北京泽方誉航专利代理事务 所(普通合伙) 11884 专利代理师 高哲宏 (51)Int.Cl. G06F 11/263 (2006.01) G06F 11/36 (2006.01) 权利要求书2页 说明书9页 附图2页 (54)发明名称 GPIO驱动测试系统、方法、装置及存储介质 (57)摘要 本申请提供了一种GPIO驱动测试系统、方 法、装置及存储介质，涉及GPIO测试技术领域，解 决了人工测试过程容易引起差异而影响测试结 果的问题，本方案中主控制器能够通过运行所设 置的测试脚本从而控制GPIO驱动测试系统中的 其它模块，进而为被测信号提供一条从GPIO至测 试模块的输出通道，以完成功能测试，并且主控 制器还能够结合测试硬件模块和/或GPIO测试套 件模块反馈的信号生成对应测试结果的测试报 告，以供测试人员查阅，该测试过程简便，无需测 试人员手动测试，从而有效地避免人工测试带来 的差异，有助于提供更准确且有效的测试结果。 A 0 5 1 1 5 8 7 1 1