发明

一种存储芯片工作应力的模拟方法、设备及存储介质

2023-06-27 09:31:51 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202310109331.8
  • 公开(公告)日:2025-07-04
  • 公开(公告)号:CN116312733A
  • 申请人:北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
摘要:本发明涉及存储芯片工作应力模拟技术领域,公开了一种存储芯片工作应力的模拟方法、设备及存储介质,包括以下步骤:S1:测试平台系统获取存储芯片的基础信息;S2:根据需求对存储芯片进行分区,划分工作应力施加区域及无工作应力施加区域;S3:测试平台系统从算法库中提取算法并分配到工作应力施加区域上;S4:工作应力施加区域通过测试平台系统模拟控制存储芯片的参数配置;S5:工作应力施加区域通过测试平台系统根据存储芯片的基础信息从驱动库中获取驱动配置;S6:测试平台系统通过S5的驱动配置后对工作应力施加区域进行工作应力模拟。通过划分存储芯片为工作应力施加区域和无工作应力施加区域,测试存储芯片不同区域对应力的敏感程度。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116312733 A (43)申请公布日 2023.06.23 (21)申请号 202310109331.8 (22)申请日 2023.02.14 (71)申请人 北京国家新能源汽车技术创新中心 有限公司 地址 100176 北京市大兴区北京经济技术 开发区泰河三街9号院国盛高新科技 工业园1号楼10层 (72)发明人 侯越  (74)专利代理机构 北京一品慧诚知识产权代理 有限公司 11762 专利代理师 杨文 (51)Int.Cl. G11C 29/56 (2006.01) 权利要求书2页 说明书4页 附图4页 (54)发明名称 一种存储芯片工作应力的模拟方法、设备及 存储介质 (57)摘要 本发明涉及存储芯片工作应力模拟技术领 域,公开了一种存储芯片工作应力的模拟方法、 设备及存储介质,包括以下步骤:S1:测试平台系 统获取存储芯片的基础信息;S2:根据需求对存 储芯片进行分区,划分工作应力施加区域及无工 作应力施加区域;S3:测试平台系统从算法库中 提取算法并分配到工作应力施加区域上;S4:工 作应力施加区域通过测试平台系统模拟控制存 储芯片的参数配置 ;S5:工作应力施加区域通过 测试平台系统根据存储芯片的基础信息从驱动 库中获取驱动配置;S6:测试平台系统通过S5的 A 驱动配置后对工作应力施加区域进行工作应力 3 模拟。通过划分存储芯片为工作应力施加区域和 3

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