发明

一种光纤光谱仪的波长标定方法2025

2024-04-21 07:46:09 发布于四川 2
  • 申请专利号:CN202311813389.7
  • 公开(公告)日:2025-05-02
  • 公开(公告)号:CN117906758A
  • 申请人:武汉颐思谱科技有限公司
摘要:本发明公开了一种光纤光谱仪的波长标定方法,属于测量技术领域。该方法首先通过待标定光纤光谱仪测量至少两个标准样品,获得测量反射光强‑像元序号序列,并通过计算任意两个标准样品的测量归一化反射光强‑像元序列比值;然后,通过理论计算标准样品的归一化反射光强‑波长序列,获得任意两个标准样品理论计算理论归一化反射光强‑波长序列比值;最后,通过比对测量归一化反射光强‑像元序号序列比值以及理论归一化反射光强‑波长序列比值,求解出波长与光纤光谱仪像元序号之间的关系,进而实现光纤光谱仪的波长标定。本发明中的波长标定方法不会受到待标定光纤光谱仪探测波长范围的限制,可实现任意光谱范围内的光纤光谱仪的准确波长标定。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117906758 A (43)申请公布日 2024.04.19 (21)申请号 202311813389.7 (22)申请日 2023.12.27 (71)申请人 武汉颐思谱科技有限公司 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开 发区金融港四路10号中原民品园9号 楼402室 (72)发明人 李伟奇 郭春付 张传维  (74)专利代理机构 武汉惠创知识产权代理事务 所(普通合伙) 42243 专利代理师 童思明 (51)Int.Cl. G01J 3/28 (2006.01) G01J 3/10 (2006.01) 权利要求书2页 说明书5页 附图2页 (54)发明名称 一种光纤光谱仪的波长标定方法 (57)摘要 本发明公开了一种光纤光谱仪的波长标定 方法,属于测量技术领域。该方法首先通过待标 定光纤光谱仪测量至少两个标准样品,获得测量 反射光强‑像元序号序列,并通过计算任意两个 标准样品的测量归一化反射光强‑像元序列比 值;然后,通过理论计算标准样品的归一化反射 光强‑波长序列,获得任意两个标准样品理论计 算理论归一化反射光强‑波长序列比值;最后,通 过比对测量归一化反射光强‑像元序号序列比值 以及理论归一化反射光强‑波长序列比值,求解 出波长与光纤光谱仪像元序号之间的关系,进而 实现光纤光谱仪的波长标定。本发明中的波长标 A 定方法不会受到待标定光纤光谱仪探测波长范 8 围的限制

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