一种测试温度控制装置及方法2025

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116880603 A (43)申请公布日 2023.10.13 (21)申请号 202310860745.4 (22)申请日 2023.07.13 (71)申请人 湖北长江万润半导体技术有限公司 地址 430081 湖北省武汉市青山区建设二 路1号武钢数字大厦9F (72)发明人 张杰　吴国骏　赵周星　李四林　 (74)专利代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限 公司 42102 专利代理师 黄帅　胡琳萍 (51)Int.Cl. G05D 23/20 (2006.01) 权利要求书1页 说明书4页 附图1页 (54)发明名称 一种测试温度控制装置及方法 (57)摘要 本发明公开了一种测试温度控制装置及方 法，该装置包括：温箱，用于提供基础温度，基础 温度低于目标温度；被测模块，置于温箱内且自 身会产生热量；加热模块，与被测模块相接触且 一开始时并不工作；温度传感器，用于检测被测 模块的温度；当被测模块的温度高于目标温度 时，温箱降低基础温度，加热模块不工作且由于 与被测模块相接触而相当于散热器；当被测模块 的温度低于目标温度时，加热模块开始工作以加 热被测模块，使被测模块的温度达到目标温度， 并在被测模块的温度达到目标温度后停止加热， 当被测模块的温度低于目标温度一定幅度时，加 A 热模块继续工作以加热被测模块直至被测模块 3 的温度达到目标温度，并不断重复。本发明温度 0 6 0 控制更加精确。 8 8 6 1