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发明

图像瑕疵检测方法、电子设备及存储介质

2022-10-24 10:21:55 发布于四川 1
  • 申请专利号：CN202110180685.2
  • 公开（公告）日：2025-06-03
  • 公开（公告）号：CN114943671A
  • 申请人：富泰华工业（深圳）有限公司|||鸿海精密工业股份有限公司
摘要：本申请涉及图像检测领域，提供一种图像瑕疵检测方法、电子设备及存储介质。所述方法包括：将无瑕疵样本图像数据集输入自编码器，得到第一隐向量集和第一重构图像向量集，计算得到第一重构误差集，根据第一重构误差集与第一隐向量集得到训练图像特征集，训练高斯混合模型得到图像瑕疵检测模型与参考误差值；将待检测图像输入自编码器得到所述待检测图像的预测分数，根据预测分数和参考误差值判断待检测图像是否存在瑕疵。本申请可以通过自编码器和高斯混合模型，实现对瑕疵样本分布的预测，提高瑕疵检测的准确率。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114943671 A (43)申请公布日 2022.08.26 (21)申请号 202110180685.2 G06V 10/762 (2022.01) (22)申请日 2021.02.09 (71)申请人 富泰华工业（深圳）有限公司 地址 518109 广东省深圳市龙华新区观澜 街道大三社区富士康观澜科技园B区 厂房4栋、6栋、7栋、13栋(Ⅰ段) 申请人 鸿海精密工业股份有限公司 (72)发明人 蔡东佐　郭锦斌　林子甄　简士超　 (74)专利代理机构 深圳市赛恩倍吉知识产权代 理有限公司 44334 专利代理师 刘丽华 (51)Int.Cl. G06T 7/00 (2017.01) G06V 10/774 (2022.01) G06V 10/82 (2022.01) 权利要求书2页 说明书11页 附图3页 (54)发明名称 图像瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 (57)摘要 本申请涉及图像检测领域，提供一种图像瑕 疵检测方法、电子设备及存储介质。所述方法包 括：将无瑕疵样本图像数据集输入自编码器，得 到第一隐向量集和第一重构图像向量集，计算得 到第一重构误差集，根据第一重构误差集与第一 隐向量集得到训练图像特征集，训练高斯混合模 型得到图像瑕疵检测模型与参考误差值；将待检 测图像输入自编码器得到所述待检测图像的预 测

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