智能存储器装置测试资源
- 申请专利号:CN202011496987.2
- 公开(公告)日:2025-07-15
- 公开(公告)号:CN112992255A
- 申请人:美光科技公司
专利内容
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112992255 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202011496987.2 (22)申请日 2020.12.17 (30)优先权数据 62/949,997 2019.12.18 US 16/852,229 2020.04.17 US (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 G ·D ·哈默 (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 代理人 王龙 (51)Int.Cl. G11C 29/38 (2006.01) G11C 29/56 (2006.01) 权利要求书3页 说明书15页 附图8页 (54)发明名称 智能存储器装置测试资源 (57)摘要 本公开涉及智能存储器装置测试资源。一种 存储器装置测试资源包含所述存储器装置测试 资源的专用处理装置,所述专用处理装置配置成 促进耦合到所述存储器装置测试资源的存储器 子系统的存储器装置的测试。所述存储器装置测 试资源进一步包含:存储器子系统接口端口,其 耦合到所述专用处理装置且配置成将所述存储 器装置测试资源耦合到所述处理装置;测试条件 组件,其耦合到所述专用处理装置且配置成在所 述存储器装置测试资源处产生测试条件;及测试 资源监测组件,其耦合到所述专用处理装置且配 置成在所述存储器装置测试资源处监测一或多 A 个条件。 5 5 2 2 9 9 2
最新专利
- 集成电路以及保护集成电路的上电时序的方法公开日期:2025-07-25公开号:CN113870932A申请号:CN202011546311.X集成电路以及保护集成电路的上电时序的方法
- 发布时间:2023-07-07 07:12:110
- 申请号:CN202011546311.X
- 公开号:CN113870932A
- 反熔丝感测装置及其操作方法公开日期:2025-07-25公开号:CN116343882A申请号:CN202210207641.9反熔丝感测装置及其操作方法
- 发布时间:2023-06-29 07:08:240
- 申请号:CN202210207641.9
- 公开号:CN116343882A
- 运用于非易失性存储器的感测元件公开日期:2025-07-25公开号:CN116266466A申请号:CN202211555519.7运用于非易失性存储器的感测元件
- 发布时间:2023-06-23 07:41:080
- 申请号:CN202211555519.7
- 公开号:CN116266466A
- 半导体装置的不良解析系统、半导体装置的不良解析方法及程序公开日期:2025-07-25公开号:CN114121113A申请号:CN202110162393.6半导体装置的不良解析系统、半导体装置的不良解析方法及程序
- 发布时间:2023-06-18 07:23:060
- 申请号:CN202110162393.6
- 公开号:CN114121113A
- 存储系统及操作其的方法公开日期:2025-07-25公开号:CN112447236A申请号:CN202010516752.9存储系统及操作其的方法
- 发布时间:2023-06-02 12:07:490
- 申请号:CN202010516752.9
- 公开号:CN112447236A
- 一种硬盘故障预测方法、装置、电子设备及存储介质公开日期:2025-07-25公开号:CN114758714A申请号:CN202210370064.5一种硬盘故障预测方法、装置、电子设备及存储介质
- 发布时间:2023-05-16 10:47:260
- 申请号:CN202210370064.5
- 公开号:CN114758714A