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智能存储器装置测试资源

2023-06-11 13:26:19 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202011496987.2
  • 公开(公告)日:2025-07-15
  • 公开(公告)号:CN112992255A
  • 申请人:美光科技公司
摘要:本公开涉及智能存储器装置测试资源。一种存储器装置测试资源包含所述存储器装置测试资源的专用处理装置,所述专用处理装置配置成促进耦合到所述存储器装置测试资源的存储器子系统的存储器装置的测试。所述存储器装置测试资源进一步包含:存储器子系统接口端口,其耦合到所述专用处理装置且配置成将所述存储器装置测试资源耦合到所述处理装置;测试条件组件,其耦合到所述专用处理装置且配置成在所述存储器装置测试资源处产生测试条件;及测试资源监测组件,其耦合到所述专用处理装置且配置成在所述存储器装置测试资源处监测一或多个条件。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112992255 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202011496987.2 (22)申请日 2020.12.17 (30)优先权数据 62/949,997 2019.12.18 US 16/852,229 2020.04.17 US (71)申请人 美光科技公司 地址 美国爱达荷州 (72)发明人 G ·D ·哈默  (74)专利代理机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 11287 代理人 王龙 (51)Int.Cl. G11C 29/38 (2006.01) G11C 29/56 (2006.01) 权利要求书3页 说明书15页 附图8页 (54)发明名称 智能存储器装置测试资源 (57)摘要 本公开涉及智能存储器装置测试资源。一种 存储器装置测试资源包含所述存储器装置测试 资源的专用处理装置,所述专用处理装置配置成 促进耦合到所述存储器装置测试资源的存储器 子系统的存储器装置的测试。所述存储器装置测 试资源进一步包含:存储器子系统接口端口,其 耦合到所述专用处理装置且配置成将所述存储 器装置测试资源耦合到所述处理装置;测试条件 组件,其耦合到所述专用处理装置且配置成在所 述存储器装置测试资源处产生测试条件;及测试 资源监测组件,其耦合到所述专用处理装置且配 置成在所述存储器装置测试资源处监测一或多 A 个条件。 5 5 2 2 9 9 2

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