发明

测试系统以及测试方法

2023-05-17 11:52:48 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202110724024.1
  • 公开(公告)日:2025-05-02
  • 公开(公告)号:CN114822672A
  • 申请人:南亚科技股份有限公司
摘要:揭露一种测试系统。测试系统包含测试机、第一电压稳定电路以及待测试装置。测试机产生第一操作电压以及控制信号。第一电压稳定电路传输关联于第一操作电压的第二操作电压至插座板。待测试装置使用通过插座板接收的第二操作电压作动。第一电压稳定电路还用以在待测试装置作动时根据控制信号控制第二操作电压以具有第一电压电位。一种测试方法也在此揭露。本案所提的测试系统以及测试方法稳定操作在高速的低功率内存的操作电压,以及相应地提供低功率内存装置的宽输出选通窗。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114822672 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202110724024.1 (22)申请日 2021.06.29 (30)优先权数据 17/155,043 2021.01.21 US (71)申请人 南亚科技股份有限公司 地址 中国台湾新北市泰山区南林路98号 (72)发明人 曾昱玮 章志名 方琬珺 许瑞中  李俊锡  (74)专利代理机构 北京派特恩知识产权代理有 限公司 11270 专利代理师 薛恒 徐川 (51)Int.Cl. G11C 29/50 (2006.01) G11C 29/56 (2006.01) 权利要求书2页 说明书7页 附图5页 (54)发明名称 测试系统以及测试方法 (57)摘要 揭露一种测试系统。测试系统包含测试机、 第一电压稳定电路以及待测试装置。测试机产生 第一操作电压以及控制信号。第一电压稳定电路 传输关联于第一操作电压的第二操作电压至插 座板。待测试装置使用通过插座板接收的第二操 作电压作动。第一电压稳定电路还用以在待测试 装置作动时根据控制信号控制第二操作电压以 具有第一电压电位。一种测试方法也在此揭露。 本案所提的测试系统以及测试方法稳定操作在 高速的低功率内存的操作电压,以及相应地提供 低功率内存装置的宽输出选通窗。 A 2 7 6 2 2 8 4 1 1 N C CN 114822672 A

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