一种电子元器件自动高低温测试设备

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116550640 A (43)申请公布日 2023.08.08 (21)申请号 202310634090.9 (22)申请日 2023.05.31 (71)申请人 中国振华集团永光电子有限公司 （国营第八七三厂） 地址 550018 贵州省贵阳市乌当区新添大 道北段270号 (72)发明人 廖从勇　张荣荣　周发　 (74)专利代理机构 贵州派腾知识产权代理有限 公司 52114 专利代理师 汪劲松 (51)Int.Cl. B07C 5/34 (2006.01) G01R 31/00 (2006.01) B07C 5/36 (2006.01) 权利要求书2页 说明书5页 附图6页 (54)发明名称 一种电子元器件自动高低温测试设备 (57)摘要 本发明提供的一种电子元器件自动高低温 测试设备，包括高低温箱；本发明通过堆叠的存 储盘可以同时进行较多器件的高低温测试，上下 料机构可有效实现产品高低温测试工序的自动 化，并有效的降低工作人员的劳动强度、提高生 产效率、降低生产成本。出料口出料时立即对产 品进行电参数测试，避免了现有因人工取出到电 参数测试工序的过程中产品温度变化而导致的 电参数测试偏差，有效提高温循试验后产品测试 的时效性、准确性，保证产品一致性、稳定性。 A 0 4 6 0 5 5 6 1 1 N C CN 116550640 A