发明

一种芯片的制作方法

2023-04-26 09:52:09 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202111408489.2
  • 公开(公告)日:2025-06-20
  • 公开(公告)号:CN114077153A
  • 申请人:泉意光罩光电科技(济南)有限公司
摘要:本申请实施例公开了一种芯片的制作方法,该方法包括:提供一光罩;将所述光罩的第一表面划分为多个尺寸和形状均相同的预设区域;根据各个预设区域中的预设图形的数量,获取所述多个预设区域中各个预设区域的图形密度;根据所述预设区域的图形密度,得到修正区域,所述修正区域包括图形密度取值范围在第一预设值和第二预设值之间的至少一个预设区域,包括端点值;在所述修正区域选取多个测量点,根据所述多个测量点所在位置处的预设图形的线宽,对利用所述光罩制作芯片时的曝光剂量进行调整;根据调整后的曝光剂量,利用所述光罩制作所述芯片,能够有效改善芯片线宽的均匀性,从而有助于提高芯片的良率。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114077153 A (43)申请公布日 2022.02.22 (21)申请号 202111408489.2 (22)申请日 2021.11.19 (71)申请人 泉意光罩光电科技(济南)有限公司 地址 250101 山东省济南市高新区经十路 7000号汉峪金融商务中心A4-(4)办公 楼九层904室 (72)发明人 黃钲为 葛伟妮 李式中 李双双  (74)专利代理机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 代理人 鲁梅 (51)Int.Cl. G03F 1/00 (2012.01) G03F 7/20 (2006.01) 权利要求书2页 说明书8页 附图4页 (54)发明名称 一种芯片的制作方法 (57)摘要 本申请实施例公开了一种芯片的制作方法, 该方法包括:提供一光罩;将所述光罩的第一表 面划分为多个尺寸和形状均相同的预设区域;根 据各个预设区域中的预设图形的数量,获取所述 多个预设区域中各个预设区域的图形密度;根据 所述预设区域的图形密度,得到修正区域,所述 修正区域包括图形密度取值范围在第一预设值 和第二预设值之间的至少一个预设区域,包括端 点值;在所述修正区域选取多个测量点,根据所 述多个测量点所在位置处的预设图形的线宽,对 利用所述光罩制作芯片时的曝光剂量进行调整; 根据调整后的曝光剂量,利用所述光罩制作所述 A 芯片,能够有效改善芯片线宽的均匀性,从而有 3