电子部件测试用分选机

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114192441 A (43)申请公布日 2022.03.18 (21)申请号 202111390957.8 B07C 5/36 (2006.01) (22)申请日 2019.11.21 (30)优先权数据 10-2018-0159011 2018.12.11 KR (62)分案原申请数据 201911146750.9 2019.11.21 (71)申请人 泰克元有限公司 地址 韩国京畿道华城市 (72)发明人 金善真　金峻秀　 (74)专利代理机构 北京铭硕知识产权代理有限 公司 11286 代理人 姜长星　李盛泉 (51)Int.Cl. B07C 5/344 (2006.01) B07C 5/02 (2006.01) 权利要求书2页 说明书17页 附图21页 (54)发明名称 电子部件测试用分选机 (57)摘要 本发明涉及电子部件测试用分选机，包括： 测试腔，具有向前方开口的出入孔；开闭装置，在 电子部件通过出入孔而被带入或带出测试腔时 打开出入孔，在进行针对电子部件的测试时封闭 出入孔；出入装置，在拾取要被测试的电子部件 之后通过出入孔将拾取的电子部件带入测试腔， 并在拾取完成测试的电子部件之后通过出入孔 将拾取的电子部件带出测试腔；加压装置，对在 测试位置的待测试的电子部件加压而将电子部 件电连接到测试仪，电子部件在借由出入装置被 带入测试腔之后被带出测试腔，在带入和带出时