发明

电子部件测试用分选机

2023-04-28 10:01:48 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202111390957.8
  • 公开(公告)日:2025-03-11
  • 公开(公告)号:CN114192441A
  • 申请人:泰克元有限公司
摘要:本发明涉及电子部件测试用分选机,包括:测试腔,具有向前方开口的出入孔;开闭装置,在电子部件通过出入孔而被带入或带出测试腔时打开出入孔,在进行针对电子部件的测试时封闭出入孔;出入装置,在拾取要被测试的电子部件之后通过出入孔将拾取的电子部件带入测试腔,并在拾取完成测试的电子部件之后通过出入孔将拾取的电子部件带出测试腔;加压装置,对在测试位置的待测试的电子部件加压而将电子部件电连接到测试仪,电子部件在借由出入装置被带入测试腔之后被带出测试腔,在带入和带出时通过出入孔,出入装置固定于测试腔的外侧,包括配备有能够拾取或解除拾取的拾取器的拾取杆,拾取器配置为能够通过出入孔进入测试腔的内部或脱离测试腔。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114192441 A (43)申请公布日 2022.03.18 (21)申请号 202111390957.8 B07C 5/36 (2006.01) (22)申请日 2019.11.21 (30)优先权数据 10-2018-0159011 2018.12.11 KR (62)分案原申请数据 201911146750.9 2019.11.21 (71)申请人 泰克元有限公司 地址 韩国京畿道华城市 (72)发明人 金善真 金峻秀  (74)专利代理机构 北京铭硕知识产权代理有限 公司 11286 代理人 姜长星 李盛泉 (51)Int.Cl. B07C 5/344 (2006.01) B07C 5/02 (2006.01) 权利要求书2页 说明书17页 附图21页 (54)发明名称 电子部件测试用分选机 (57)摘要 本发明涉及电子部件测试用分选机,包括: 测试腔,具有向前方开口的出入孔;开闭装置,在 电子部件通过出入孔而被带入或带出测试腔时 打开出入孔,在进行针对电子部件的测试时封闭 出入孔;出入装置,在拾取要被测试的电子部件 之后通过出入孔将拾取的电子部件带入测试腔, 并在拾取完成测试的电子部件之后通过出入孔 将拾取的电子部件带出测试腔;加压装置,对在 测试位置的待测试的电子部件加压而将电子部 件电连接到测试仪,电子部件在借由出入装置被 带入测试腔之后被带出测试腔,在带入和带出时

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