发明

一种RC-IGBT器件及其制作方法

2023-05-10 11:03:47 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202310287466.3
  • 公开(公告)日:2023-06-16
  • 公开(公告)号:CN116072543A
  • 申请人:上海陆芯电子科技有限公司
摘要:本发明公开了一种RC‑IGBT器件及其制作方法,制作方法包括:形成具备正面元胞结构的RC‑IGBT硅基;向RC‑IGBT硅基的背面注入第一类型杂质离子依次形成第一类型缓冲区和第一类型集电区;对第一类型集电区远离第一类型缓冲区的表面进行处理形成多个凹槽,其中,凹槽的深度大于设定深度;向处理后的第一类型集电区远离第一类型缓冲区的表面注入第二类型杂质离子,形成第二类型集电区;去除部分第二类型集电区以裸露部分第一类型集电区,同时保留凹槽内的第二类型集电区。本发明提供的RC‑IGBT器件及其制作方法,无需背面光刻工艺,制作方法简单,可以降低RC‑IGBT器件的制作成本。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116072543 A (43)申请公布日 2023.05.05 (21)申请号 202310287466.3 (22)申请日 2023.03.23 (71)申请人 上海陆芯电子科技有限公司 地址 201203 上海市浦东新区中国 (上海) 自由贸易试验区蔡伦路1690号2幢409 室 (72)发明人 李豪 张杰  (74)专利代理机构 北京品源专利代理有限公司 11332 专利代理师 苏舒音 (51)Int.Cl. H01L 21/331 (2006.01) H01L 29/06 (2006.01) H01L 29/08 (2006.01) H01L 29/739 (2006.01) 权利要求书2页 说明书8页 附图9页 (54)发明名称 一种RC-IGBT器件及其制作方法 (57)摘要 本发明公开了一种RC‑IGBT器件及其制作方 法,制作方法包括:形成具备正面元胞结构的RC‑ IGBT硅基;向RC‑IGBT硅基的背面注入第一类型 杂质离子依次形成第一类型缓冲区和第一类型 集电区;对第一类型集电区远离第一类型缓冲区 的表面进行处理形成多个凹槽,其中,凹槽的深 度大于设定深度;向处理后的第一类型集电区远 离第一类型缓冲区的表面注入第二类型杂质离 子,形成第二类型集电区 ;去除部分第二类型集 电区以裸露部分第一类型集电区,同时保留凹槽 内的第二类型集电

最新专利