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实用新型

一种光学仪器用辅助校准设备2024

2024-10-12 13:12:00 发布于四川 0
  • 申请专利号：CN202323494418.6
  • 公开（公告）日：2024-10-11
  • 公开（公告）号：CN221826433U
  • 申请人：西安熙和同光光电科技有限公司
摘要：本实用新型属于光学校准技术领域，提供一种光学仪器用辅助校准设备，包括基座、校准组件、显示组件，通过校准组件内的电机一和电机二分别驱动反射镜一和反射镜二旋转，在各方向上反射光照进入光学仪器中，并配合传感器接收反射光参数，最后通过显示组件展示仪器状态与参数，方便对其校准；解决了现有的光学仪器校准设备可以实现对仪器的基本校准效果，但由于光学仪器对环境条件敏感，温度和光照角度的变化可能会导致仪器的数据改变，现有的校准设备通常采用直接测量比对的方式来校准仪器，产生的误差较大，降低了校准工作的精确性的问题。

专利内容

本实用新型属于光学校准技术领域，提供一种光学仪器用辅助校准设备，包括基座、校准组件、显示组件，通过校准组件内的电机一和电机二分别驱动反射镜一和反射镜二旋转，在各方向上反射光照进入光学仪器中，并配合传感器接收反射光参数，最后通过显示组件展示仪器状态与参数，方便对其校准；解决了现有的光学仪器校准设备可以实现对仪器的基本校准效果，但由于光学仪器对环境条件敏感，温度和光照角度的变化可能会导致仪器的数据改变，现有的校准设备通常采用直接测量比对的方式来校准仪器，产生的误差较大，降低了校准工作的精确性的问题。G01M11/02(2006.01)

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