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确定器件制造工艺的控制参数的方法

2023-05-15 11:28:43 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202210429378.8
  • 公开(公告)日:2025-07-15
  • 公开(公告)号:CN114721232A
  • 申请人:ASML荷兰有限公司
摘要:本文中公开了一种用于确定制造工艺的一个或多个控制参数的方法,所述制造工艺包括光刻工艺和一个或多个另外的工艺,所述方法包括:获取衬底的至少一部分的图像,其中所述图像包括通过制造工艺而被制造在衬底上的至少一个特征;取决于从图像确定的轮廓,计算一个或多个图像相关度量,其中图像相关度量中的一项是至少一个特征的边缘位置误差EPE;以及取决于边缘位置误差,确定光刻工艺和/或一个或多个另外的工艺的一个或多个控制参数,其中至少一个控制参数被确定以便最小化至少一个特征的边缘位置误差。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114721232 A (43)申请公布日 2022.07.08 (21)申请号 202210429378.8 (74)专利代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 (22)申请日 2018.08.22 专利代理师 郑振 (30)优先权数据 (51)Int.Cl. 17193430.0 2017.09.27 EP G03F 7/20 (2006.01) 17200255.2 2017.11.07 EP G06T 7/00 (2017.01) 18155070.8 2018.02.05 EP H01L 21/66 (2006.01) (62)分案原申请数据 201880062857.2 2018.08.22 (71)申请人 ASML荷兰有限公司 地址 荷兰维德霍温 (72)发明人 W ·T ·特尔 M ·J ·马斯洛  K ·范因根 ·舍瑙 P ·沃纳尔  A ·斯拉克特 R ·阿努西亚多 

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