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发明

一种混合K边吸收-X射线荧光分析方法和设备2025

2023-12-17 07:12:31 发布于四川 0
  • 申请专利号：CN202311021784.1
  • 公开（公告）日：2025-04-15
  • 公开（公告）号：CN117191842A
  • 申请人：中国核电工程有限公司
摘要：本发明公开了一种混合K边吸收‑X射线荧光分析方法，采用X射线照射待测样品，以使待测样品产生铀K边界吸收，以及激发出待测样品铀、钚的L系特征荧光，根据经过待测样品铀K边界吸收后的X射线获得待测样品中铀的吸收谱，根据吸收谱和X射线空白谱从而得到铀浓度；根据待测样品铀、钚的L系特征荧光获得待测样品中铀、钚的L系荧光峰面积关系，从而得到铀/钚浓度比，进而获得待测样品的钚浓度。本发明的混合K边吸收‑X射线荧光分析方法能够破除应用范围限制，有效提高分析结果准确度，并有效降低X射线散射影响。本发明还提供一种混合K边吸收‑X射线荧光分析设备。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117191842 A (43)申请公布日 2023.12.08 (21)申请号 202311021784.1 (22)申请日 2023.08.14 (71)申请人 中国核电工程有限公司 地址 100840 北京市海淀区西三环北路117 号 (72)发明人 马敬　杨菡　刘权卫　房映彤　 王志强　赵宇菲　秦永泉　陈勇　 陈靖　李力　张兆清　王志恒　 (74)专利代理机构 北京天昊联合知识产权代理 有限公司 11112 专利代理师 邓伯英　罗建民 (51)Int.Cl. G01N 23/2206 (2018.01) G01N 23/223 (2006.01) G01N 23/083 (2018.01) 权利要求书3页 说明书12页 附图2页 (54)发明名称 一种混合K边吸收-X射线荧光分析方法和设 备 (57)摘要 本发明公开了一种混合K边吸收‑X射线荧光 分析方法，采用X射线照射待测样品，以使待测样 品产生铀K边界吸收，以及激发出待测样品铀、钚 的L系特征荧光，根据经过待测样品铀K边界吸收 后的X射线获得待测样品中铀的吸收谱，根据吸 收谱和X射线空白谱从而得到铀浓度；根据待测 样品铀、钚的L系特征荧光获得待测样品中铀、钚 的L系荧光峰面积关系，从而得到铀/钚浓度比， 进而获得待测样品的钚浓度。本发明的混合K边 吸收‑X射线荧光分析方法能够

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