发明

一种超透镜、超透镜系统及制造方法2024

2024-02-15 07:16:46 发布于四川 49
  • 申请专利号:CN202311647150.7
  • 公开(公告)日:2024-02-06
  • 公开(公告)号:CN117518310A
  • 申请人:武汉邮电科学研究院有限公司|||武汉光谷信息光电子创新中心有限公司
摘要:一种超透镜、超透镜系统及制造方法,涉及微纳光学器件及其制造技术领域,超透镜包括:基底;纳米柱阵列,其设置在基底上,纳米柱阵列包括多种不同高度的纳米柱,纳米柱被配置为:基于设定的光场相位分布函数排列,且基底表面不同位置的纳米柱的高度基于相位和高度的对应关系确定。本发明可通过不同高度纳米柱实现线性相移调控,并减少因制造误差带来的相移误差。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117518310 A (43)申请公布日 2024.02.06 (21)申请号 202311647150.7 (22)申请日 2023.11.30 (71)申请人 武汉邮电科学研究院有限公司 地址 430074 湖北省武汉市洪山区邮科院 路88号 申请人 武汉光谷信息光电子创新中心有限 公司 (72)发明人 冯家豪 陶金 吴冕 李臻 严杰  肖希  (74)专利代理机构 武汉智权专利代理事务所 (特殊普通合伙) 42225 专利代理师 陈锐 (51)Int.Cl. G02B 3/00 (2006.01) G02B 27/09 (2006.01) 权利要求书1页 说明书6页 附图3页 (54)发明名称 一种超透镜、超透镜系统及制造方法 (57)摘要 一种超透镜、超透镜系统及制造方法,涉及 微纳光学器件及其制造技术领域,超透镜包括: 基底;纳米柱阵列,其设置在基底上,纳米柱阵列 包括多种不同高度的纳米柱,纳米柱被配置为: 基于设定的光场相位分布函数排列,且基底表面 不同位置的纳米柱的高度基于相位和高度的对 应关系确定。本发明可通过不同高度纳米柱实现 线性相移调控,并减少因制造误差带来的相移误 差。 A 0 1 3 8 1 5 7 1 1 N C CN 117518310 A 权 利 要