一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模型的构建方法2025

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 118094080 A (43)申请公布日 2024.05.28 (21)申请号 202410187502.3 (22)申请日 2024.02.20 (71)申请人 西安理工大学 地址 710048 陕西省西安市金花南路5号 (72)发明人 郭云龙　原园　 (74)专利代理机构 西安国兆智汇知识产权代理 事务所(普通合伙) 61269 专利代理师 董江华 (51)Int.Cl. G06F 17/18 (2006.01) G06F 30/20 (2020.01) G06F 119/14 (2020.01) 权利要求书6页 说明书8页 附图2页 (54)发明名称 一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模 型的构建方法 (57)摘要 本发明涉及统计学模型技术领域，具体公开 了一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模型 的构建方法，包括如下步骤：步骤1：通过获取粗 糙表面统计学参数以及微凸体高度的分布，基于 单个微凸体的接触力学性质，得到整个粗糙表面 统计学接触模型；步骤2：通过粗糙表面接触变形 中的单个微凸体的面积分布函数，建立粗糙表面 真实接触面积和接触载荷与单个微凸体在变形 过程中的接触面积a的分形学接触模型；步骤3： 通过各阶谱矩得到粗糙表面的统计参数；步骤4： 分别在曲率半径相同和累计偏差最小的情况下， A 建立统一接触模型。以分形学结果为基准，改进 0 了统计学结果的不唯一性，为测量粗糙表面和获 8 0 4 取统计