用于测量W band微波信号波前形状的六维测试平台2025

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117524513 A (43)申请公布日 2024.02.06 (21)申请号 202311406378.7 (22)申请日 2023.10.26 (71)申请人 中国科学技术大学 地址 230000 安徽省合肥市金寨路96号 (72)发明人 韩玉箫　张立夫　徐红强　谢锦林　 (74)专利代理机构 上海恩凡知识产权代理有限 公司 31459 专利代理师 李强 (51)Int.Cl. G21B 1/23 (2006.01) G01T 1/29 (2006.01) G01T 1/34 (2006.01) 权利要求书2页 说明书8页 附图5页 (54)发明名称 用于测量W band微波信号波前形状的六维 测试平台 (57)摘要 本发明涉及一种用于测量W band微波信号 波前形状的六维测试平台，包括微波天线、微波 混频器、微波倍频器、数字合成微波源、高速采集 卡、三维驱动电机、三维旋转台、平面支撑结构。 在微波信号处理方面，本发明通过差频测量法将 待测的高频微波射频信号降频为低频的中频信 号，通过将微波信号分为“实验道”和“参考道”两 路消除时变相位对波前测量的影响，通过增加对 微波天线三维角度的控制实现对微波场边缘位 置的有效测量；在机械控制方面，本发明通过三 维驱动电机和三维旋转台的有效配合实现对微 A 波天线六维自由度的控制，并通过自主开发的测 3 量平台控制软件实现了六维平台对w波段微波波 1 5 4 前