存储阵列故障检测方法、装置与电子设备

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(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114550799 A (43)申请公布日 2022.05.27 (21)申请号 202210173542.3 (22)申请日 2022.02.24 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 230601 安徽省合肥市经济技术开发 区空港工业园兴业大道388号 (72)发明人 楚西坤　刘东　第五天昊　 (74)专利代理机构 北京律智知识产权代理有限 公司 11438 专利代理师 李建忠 (51)Int.Cl. G11C 29/12 (2006.01) G11C 29/08 (2006.01) 权利要求书2页 说明书11页 附图5页 (54)发明名称 存储阵列故障检测方法、装置与电子设备 (57)摘要 本公开提供一种存储阵列故障检测方法、装 置与电子设备。方法包括：对待测存储阵列中多 条第一位线连接的存储单元和多条第二位线连 接的存储单元分别写入第一电压和第二电压，第 一位线与第二位线交错相邻设置，第一电压大于 第二电压；顺次控制多条字线开启以读取存储单 元，其中控制多条字线开启包括控制每条字线开 启预设时长后，控制连接第一位线或第二位线的 感应放大器开启以读取存储单元，预设时长大于 感应放大器对应的标准感应延迟时间；在存储单 元的读取结果不等于其写入的第一电压或第二 电压时，判断待测存储阵列存在同轴字线双位元 A 电容漏电。本公开实施例可以较快测出连接同一 9 条字线的相邻存储单元(同轴字线双位元)之间 9 7