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一种悬空异质薄膜的图形化方法及压力传感器制备方法2025

2023-09-24 07:20:47 发布于四川 6
  • 申请专利号:CN202310727356.4
  • 公开(公告)日:2025-08-26
  • 公开(公告)号:CN116768146A
  • 申请人:中国人民解放军国防科技大学
摘要:本发明公开一种悬空异质薄膜的图形化方法及压力传感器制备方法,该方法的所有步骤与当前CMOS工艺完全兼容,在无需额外定制设备的基础上,可实现悬空二维材料结构的大规模流片制备以及成本削减;在方法实施过程中,二维材料全程被高分子支撑材料支撑和保护,有效避免实施过程中二维材料的破损。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116768146 A (43)申请公布日 2023.09.19 (21)申请号 202310727356.4 (22)申请日 2023.06.19 (71)申请人 中国人民解放军国防科技大学 地址 410073 湖南省长沙市开福区德雅路 109号 (72)发明人 刘瑛 刘冠军 邱静 吕克洪  杨鹏 张勇 郭斯琳  (74)专利代理机构 长沙国科天河知识产权代理 有限公司 43225 专利代理师 陈俊好 (51)Int.Cl. B81C 1/00 (2006.01) 权利要求书2页 说明书5页 附图4页 (54)发明名称 一种悬空异质薄膜的图形化方法及压力传 感器制备方法 (57)摘要 本发明公开一种悬空异质薄膜的图形化方 法及压力传感器制备方法,该方法的所有步骤与 当前CMOS工艺完全兼容,在无需额外定制设备的 基础上,可实现悬空二维材料结构的大规模流片 制备以及成本削减 ;在方法实施过程中 ,二维材 料全程被高分子支撑材料支撑和保护,有效避免 实施过程中二维材料的破损。 A 6 4 1 8 6 7 6 1 1 N C CN 116768146 A 权 利 要 求 书 1/2页 1.一种悬空异质薄膜的图形化方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:取合适尺寸生长有单层或少层二维材料的基

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