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极紫外光罩与其制造方法

2023-06-14 13:05:46 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN202011388345.0
  • 公开(公告)日:2024-12-03
  • 公开(公告)号:CN113138528A
  • 申请人:台湾积体电路制造股份有限公司
摘要:本揭露提供一种极紫外(extreme ultra violet;EUV)光罩与其制造方法。例如:此极紫外光罩包含基材、形成于基材上的多层镜面层、形成于多层镜面层上的金属覆盖层、以及形成于金属覆盖层之上的多层吸收层。此多层吸收层包含蚀刻至多层吸收层中的特征,以在半导体元件上定义结构。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113138528 A (43)申请公布日 2021.07.20 (21)申请号 202011388345.0 (22)申请日 2020.12.01 (30)优先权数据 16/746,640 2020.01.17 US (71)申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 地址 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力 行六路八号 (72)发明人 许倍诚 连大成 李信昌  (74)专利代理机构 北京律诚同业知识产权代理 有限公司 11006 代理人 徐金国 (51)Int.Cl. G03F 1/58 (2012.01) G03F 1/68 (2012.01) 权利要求书1页 说明书9页 附图9页 (54)发明名称 极紫外光罩与其制造方法 (57)摘要 本揭露提供一种极紫外(extreme  ultra  violet;EUV)光罩与其制造方法。例如:此极紫外 光罩包含基材、形成于基材上的多层镜面层、形 成于多层镜面层上的金属覆盖层、以及形成于金 属覆盖层之上的多层吸收层。此多层吸收层包含 蚀刻至多层吸收层中的特征,以在半导体元件上 定义结构。 A 8 2 5 8 3 1 3 1 1 N C CN 113138528 A 权 利 要 求 书 1/1页 1.一种极紫外光罩,其特征在于,包含: 一基

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