发明

一种微机电系统结构及其制作方法

2023-04-27 13:25:58 发布于四川 0
  • 申请专利号:CN202111512073.5
  • 公开(公告)日:2025-04-04
  • 公开(公告)号:CN114148984A
  • 申请人:美新半导体(天津)有限公司
摘要:本发明提供一种微机电系统结构及其制作方法,所述微机电系统结构包括:第一半导体圆片,其设置有第一空腔、CMOS电路和防护层,第一空腔设置于第一半导体圆片的正面,CMOS电路设置于第一半导体圆片内且位于第一空腔的下方,防护层位于第一空腔的底部且位于所述CMOS电路的上方;第二半导体圆片,其为传感器的微机电系统单元,其包括固定结构、可移动结构和沟槽,第二半导体圆片与第一半导体圆片的正面相键合,第一空腔与可移动结构相对;第三半导体圆片,其与第二半导体圆片的背面相键合,第三半导体圆片的正面与第二半导体圆片的可移动结构的相对位置处设置有第二空腔。与现有技术相比,本发明能够有效防止或减少PID的产生,以对CMOS电路进行保护。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114148984 A (43)申请公布日 2022.03.08 (21)申请号 202111512073.5 (22)申请日 2021.12.07 (71)申请人 美新半导体(天津)有限公司 地址 300450 天津市自贸试验区(空港经济 区)西三道158号金融中心4-501室 (72)发明人 郭亚 刘尧青 储莉玲 金羊华  (74)专利代理机构 苏州简理知识产权代理有限 公司 32371 代理人 庞聪雅 (51)Int.Cl. B81B 3/00 (2006.01) B81B 7/00 (2006.01) B81B 7/02 (2006.01) B81C 1/00 (2006.01) B81C 3/00 (2006.01) 权利要求书2页 说明书4页 附图4页 (54)发明名称 一种微机电系统结构及其制作方法 (57)摘要 本发明提供一种微机电系统结构及其制作 方法,所述微机电系统结构包括:第一半导体圆 片,其设置有第一空腔、CMOS电路和防护层,第一 空腔设置于第一半导体圆片的正面,CMOS电路设 置于第一半导体圆片内且位于第一空腔的下方, 防护层位于第一空腔的底部且位于所述CMOS电 路的上方;第二半导体圆片,其为传感器的微机 电系统单元,其包括固定结构、可移动结构和沟 槽,第二半导体圆片与第一半导体圆片的正面相 键合,第一空腔与可移动结构相对;第

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