发明

光学邻近效应修正方法和系统、掩膜版及其制备方法

2023-06-14 12:21:02 发布于四川 1
  • 申请专利号:CN201911382862.4
  • 公开(公告)日:2024-10-22
  • 公开(公告)号:CN113050367A
  • 申请人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司|||中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
摘要:本发明实施例提供了一种光学邻近效应修正方法和系统、掩膜版及其制备方法,所述光学邻近效应修正方法包括:获取待修正主图形和所述待修正主图形的重叠图形及重叠边,所述待修正主图形和其他的主图形按照光刻位置重叠的部分为重叠图形,所述重叠图形在所述待修正主图形的外边缘上的边为重叠边;在待修正的所述重叠边的相邻位置设置散射条辅助图形。本发明实施例所提供的光学邻近效应修正方法中,由于所述散射条辅助图形设置于待修正的重叠边的相邻位置,可以在之后的步骤中很好地改善待修正主图形的质量,尤其是待修正的重叠边所对应位置的图形质量,从而提高所得图形中交错的部分的质量,最终可以提高所得半导体器件的合格率。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113050367 A (43)申请公布日 2021.06.29 (21)申请号 201911382862.4 (22)申请日 2019.12.27 (71)申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限 公司 地址 201203 上海市浦东新区中国(上海) 自由贸易试验区张江路18号 申请人 中芯国际集成电路制造(北京)有限 公司 (72)发明人 陈术 游林  (74)专利代理机构 上海知锦知识产权代理事务 所(特殊普通合伙) 31327 代理人 吴凡 (51)Int.Cl. G03F 1/36(2012.01) G03F 7/20(2006.01) 权利要求书2页 说明书6页 附图2页 (54)发明名称 光学邻近效应修正方法和系统、掩膜版及其 制备方法 (57)摘要 本发明实施例提供了一种光学邻近效应修 正方法和系统、掩膜版及其制备方法,所述光学 邻近效应修正方法包括:获取待修正主图形和所 述待修正主图形的重叠图形及重叠边,所述待修 正主图形和其他的主图形按照光刻位置重叠的 部分为重叠图形,所述重叠图形在所述待修正主 图形的外边缘上的边为重叠边;在待修正的所述 重叠边的相邻位置设置散射条辅助图形。本发明 实施例所提供的光学邻近效应修正方

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