ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114257244 A (43)申请公布日 2022.03.29 (21)申请号 202111501380.3 (22)申请日 2021.12.09 (71)申请人 深圳市锐能微科技有限公司 地址 518000 广东省深圳市南山区深圳软 件产业基地第5栋裙楼401、402室 (72)发明人 苗书立　李文标　刘凯　 (74)专利代理机构 深圳中一联合知识产权代理 有限公司 44414 代理人 梁姗 (51)Int.Cl. H03M 1/10 (2006.01) 权利要求书2页 说明书9页 附图3页 (54)发明名称 ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储 介质 (57)摘要 本发明实施例公开了一种ADC芯片测试电 路、方法、测试设备以及存储介质，所述多路ADC 芯片测试方法包括获取经过分压的多个模拟测 试信号，将多个所述模拟测试信号一对一输入待 检测的ADC芯片的多个ADC支路，采集每一所述 ADC支路的输出信号，根据多个所述输出信号以 及预设的第一测试标准值范围确定所述待检测 ADC芯片是否为良品，上述方案解决解决现有技 术中ADC芯片测试效率较低的技术问题。 A 4 4 2 7 5 2 4 1 1 N C CN 114257244 A 权　利　要　求　书 1/2页 1.一种多路ADC芯片测试方