一种测试失效的测试向量的定位方法

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(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112767991 A (43)申请公布日 2021.05.07 (21)申请号 202110089974.1 (22)申请日 2021.01.22 (71)申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技 园区祖冲之路1399号 (72)发明人 蔺华妮　王磊　 (74)专利代理机构 上海思微知识产权代理事务 所(普通合伙) 31237 代理人 曹廷廷 (51)Int.Cl. G11C 29/18 (2006.01) 权利要求书1页 说明书5页 附图1页 (54)发明名称 一种测试失效的测试向量的定位方法 (57)摘要 本发明提供的一种测试失效的测试向量的 定位方法，包括以下步骤：将测试向量集分成多 个逻辑分段，并在部分逻辑分段前加入虚拟标记 位向量，虚拟标记位向量后的第一个测试向量为 起始测试向量；将具有虚拟标记位向量的逻辑分 段的测试向量加载到待测器件上完成测试，并将 测试结果在位图中示出；以及通过起始测试向量 的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试 向量在测试向量集中的地址。本发明通过虚拟标 记位后的起始测试向量的位置计算出逻辑分段 中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的 地址，实现了定位了失效的测试向量在测试向量 A 集中的位置，使得调试的工作可以很容易的进 1 行。 9 9 7 6 7 2 1 1 N C CN 112767991 A