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半导体器件和控制半导体器件的方法

2023-06-11 12:01:17 发布于四川 3
  • 申请专利号:CN202011252181.9
  • 公开(公告)日:2025-11-11
  • 公开(公告)号:CN112863558A
  • 申请人:瑞萨电子株式会社
摘要:根据本公开的各实施例涉及半导体器件和控制半导体器件的方法。电连接至存储器单元的开关电路的占用面积被减小,以减小半导体器件的尺寸。根据一个实施例的半导体器件包括:半导体衬底上的存储器单元;以及半导体芯片,电连接至存储器单元的开关电路被形成在该半导体芯片中,其中开关电路包括电连接至存储器单元的第二晶体管,并且第二晶体管包括通过第三栅极绝缘膜被形成在半导体衬底上的第二字栅极和通过第四栅极绝缘膜被形成在半导体衬底上的第二耦合栅极,第四栅极绝缘膜具有比第三栅极绝缘膜的厚度大的厚度,其中当电流被施加至存储器单元时,比施加至第二字栅极的电压高的电压被施加至第二晶体管的第二耦合栅极。

专利内容

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112863558 A (43)申请公布日 2021.05.28 (21)申请号 202011252181.9 H01L 27/11529 (2017.01) (22)申请日 2020.11.11 (30)优先权数据 2019-204402 2019.11.12 JP (71)申请人 瑞萨电子株式会社 地址 日本东京都 (72)发明人 铃木润一  (74)专利代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 代理人 李辉 (51)Int.Cl. G11C 5/02 (2006.01) G11C 5/06 (2006.01) G11C 5/14 (2006.01) H01L 27/11524 (2017.01) 权利要求书3页 说明书12页 附图11页 (54)发明名称 半导体器件和控制半导体器件的方法 (57)摘要 根据本公开的各实施例涉及半导体器件和 控制半导体器件的方法。电连接至存储器单元的 开关电路的占用面积被减小,以减小半导体器件 的尺寸。根据一个实施例的半导体器件包括:半 导体衬底上的存储器单元;以及半导体芯片,电 连接至存储器单元的开关电路被形成在该半导 体芯片中,其中开关电路包括电连接至存储器单 元的第二晶体管,并且第二晶体管包括通过第三 栅极绝缘膜被形成在半导体衬底上的第二字栅 极和通过第四栅极绝缘膜被形成在半导体衬

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