发明

一种用于TSV高深径比通孔电沉积铜填充工艺的添加剂2024

2023-12-25 07:47:06 发布于四川 5
  • 申请专利号:CN202310966200.1
  • 公开(公告)日:2024-07-05
  • 公开(公告)号:CN117265604A
  • 申请人:湖北兴福电子材料股份有限公司
摘要:本发明特别涉及一种用于TSV高深径比通孔电沉积铜填充工艺的添加剂,属于MEMS晶圆TSV高深径比通孔电沉积铜填充领域,为整平剂中的一种。所述整平剂的化学结构式为:所述整平剂具有抑制铜沉淀的作用,且能够吸附在微孔孔口和孔外镀层凸起的高电荷密度区,故能使镀层起到整平作用,和避免了电沉积过程中孔径的缩小甚至于提前封孔的异常发生,明显降低电沉积铜填充过程中的微裂缝和微空洞出现的可能性。此整平剂与抑制剂、加速剂协同作用,可保证质量信赖性而且不影响电沉积速度。

专利内容

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117265604 A (43)申请公布日 2023.12.22 (21)申请号 202310966200.1 (22)申请日 2023.08.02 (71)申请人 湖北兴福电子材料股份有限公司 地址 443007 湖北省宜昌市猇亭区猇亭大 道66-3号 (72)发明人 郭岚峰 叶瑞 贺兆波 秦祥  张演哲 刘仁龙 魏虎 雷康乐  (74)专利代理机构 宜昌市三峡专利事务所 42103 专利代理师 成钢 (51)Int.Cl. C25D 3/38 (2006.01) C25D 7/12 (2006.01) H01L 21/768 (2006.01) B81C 1/00 (2006.01) 权利要求书1页 说明书4页 附图2页 (54)发明名称 一种用于TSV高深径比通孔电沉积铜填充工 艺的添加剂 (57)摘要 本发明特别涉及一种用于TSV高深径比通孔 电沉积铜填充工艺的添加剂,属于MEMS晶圆TSV 高深径比通孔电沉积铜填充领域,为整平剂中的 一种。所述整平剂的化学结构式为: 所述整平剂具有 抑制铜沉淀的作用,且能够吸附在微孔孔口和孔 外镀层凸起的高电荷密度区,故能使镀层起到整 平作用,和避免了电沉积过程中孔径的缩小甚至 A 于提前封孔的异常发生,明显降低电沉积铜填充 4 过程中的微裂缝和微空洞出现的

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