一种凹腔体结构光刻高基频晶片及其石英晶体谐振器制备方法2025
- 申请专利号:CN202311247451.0
- 公开(公告)日:2025-05-27
- 公开(公告)号:CN117318660A
- 申请人:浙江汇隆晶片技术有限公司
专利内容
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117318660 A (43)申请公布日 2023.12.29 (21)申请号 202311247451.0 (22)申请日 2023.09.26 (71)申请人 浙江汇隆晶片技术有限公司 地址 321016 浙江省金华市婺城区工业园 区秋涛北街399号 (72)发明人 叶国萍 辜批林 李杰 (74)专利代理机构 南京中高专利代理有限公司 32333 专利代理师 陈勇 (51)Int.Cl. H03H 9/19 (2006.01) H03H 3/02 (2006.01) H03H 9/125 (2006.01) H01L 21/02 (2006.01) H01L 21/04 (2006.01) 权利要求书2页 说明书12页 附图8页 (54)发明名称 一种凹腔体结构光刻高基频晶片及其石英 晶体谐振器制备方法 (57)摘要 本发明涉及石英晶体谐振器领域,具体公开 了一种凹腔体结构光刻高基频晶片及其石英晶 体谐振器制备方法,所述凹腔体结构光刻高基频 晶片的材质为石英,且其厚度为8 μm‑30 μm ,所 述凹腔体结构光刻高基频晶片呈长方形设置;本 发明中通过Wafer晶片在离子溅射镀膜时在磁场 较弱区设计遮蔽装置,使该区域溅射出的金离 子,吸附在遮蔽装置上,而不会溅射到Wafer晶片 上,从而达到Wafer晶片在行进过程中,始终在磁 场较强区,直线接收溅射区
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